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1. WO2020110069 - PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE MICROSCOPIE

Numéro de publication WO/2020/110069
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/IB2019/060305
Date du dépôt international 29.11.2019
CIB
G02B 21/34 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
34Lames de microscope, p.ex. montage d'échantillons sur des lames de microscope
G01N 21/552 2014.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
55Réflexion spéculaire
552Réflexion totale atténuée
B82Y 15/00 2011.01
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
82NANOTECHNOLOGIE
YUTILISATION OU APPLICATIONS SPÉCIFIQUES DES NANOSTRUCTURES; MESURE OU ANALYSE DES NANOSTRUCTURES; FABRICATION OU TRAITEMENT DES NANOSTRUCTURES
15Nanotechnologie pour l’interaction, la détection ou l'actionnement, p.ex. points quantiques comme marqueurs en dosages protéiques ou moteurs moléculaires
B82Y 20/00 2011.01
BTECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
82NANOTECHNOLOGIE
YUTILISATION OU APPLICATIONS SPÉCIFIQUES DES NANOSTRUCTURES; MESURE OU ANALYSE DES NANOSTRUCTURES; FABRICATION OU TRAITEMENT DES NANOSTRUCTURES
20Nano-optique, p.ex. optique quantique ou cristaux photoniques
CPC
G01N 2021/258
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
258Surface plasmon spectroscopy, e.g. micro- or nanoparticles in suspension
G01N 21/255
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
255Details, e.g. use of specially adapted sources, lighting or optical systems
G01N 21/553
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
552Attenuated total reflection
553and using surface plasmons
G02B 21/34
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
34Microscope slides, e.g. mounting specimens on microscope slides
G02B 5/008
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
5Optical elements other than lenses
008Surface plasmon devices
Déposants
  • LA TROBE UNIVERSITY [AU]/[AU]
Inventeurs
  • ABBEY, Brian
  • BALAUR, Eugeniu
Mandataires
  • FPA PATENT ATTORNEYS PTY LTD
Données relatives à la priorité
201890455329.11.2018AU
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) MICROSCOPY METHOD AND SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE MICROSCOPIE
Abrégé
(EN)
A sample holder for use in an optical microscope is disclosed. The sample holder includes a plasmonic layer defining a periodic array of sub-micron structures wherein the periodic array of sub-micron structures comprise an array of separated plasmonic regions. The regions may be a circle, a torus, an ellipse, a cross, rectangle, square, line, strip. Methods of performing reflection and fluorescence microscopy using such a sample holder and other sample holders are also disclosed.
(FR)
L'invention concerne un porte-échantillon destiné à être utilisé dans un microscope optique. Le porte-échantillon comprend une couche plasmonique définissant un réseau périodique de structures submicroniques, le réseau périodique de structures submicroniques comprenant un réseau de régions plasmoniques séparées. Les régions peuvent être un cercle, un tore, une ellipse, une croix, un rectangle, un carré, une ligne, une bande. L'invention concerne également des procédés de réalisation de microscopie à réflexion et à fluorescence utilisant un tel porte-échantillon et d'autres porte-échantillons.
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