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1. WO2020108948 - MICROSCOPE OPTIQUE ET PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE

Numéro de publication WO/2020/108948
Date de publication 04.06.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2019/080616
Date du dépôt international 07.11.2019
CIB
G02B 21/00 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
G02B 21/36 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
36aménagés pour la photographie ou la projection
G02B 26/06 2006.01
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte ou modulation
06pour commander la phase de la lumière
CPC
G02B 21/0032
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
G02B 21/0072
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0052Optical details of the image generation
0072details concerning resolution or correction, including general design of CSOM objectives
G02B 21/365
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
36arranged for photographic purposes or projection purposes
365Control or image processing arrangements for digital or video microscopes
G02B 26/06
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
26Optical devices or arrangements using movable or deformable optical elements for controlling the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light, e.g. switching, gating, modulating
06for controlling the phase of light
Déposants
  • CARL ZEISS MICROSCOPY GMBH [DE]/[DE]
Inventeurs
  • ANHUT, Tiemo
  • SCHWEDT, Daniel
Mandataires
  • RIDDERBUSCH, Oliver
Données relatives à la priorité
10 2018 129 657.626.11.2018DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) LICHTMIKROSKOP UND MIKROSKOPIEVERFAHREN
(EN) LIGHT MICROSCOPE AND MICROSCOPY METHOD
(FR) MICROSCOPE OPTIQUE ET PROCÉDÉ DE MICROSCOPIE
Abrégé
(DE)
Ein Lichtmikroskop umfasst einen Scanner (25) zum Abrastern einer Probe (35) mit Beleuchtungslicht (12) und einen Lichtdetektor (60) zum Messen von Probenlicht (15). Ein Mikrolinsenarray (50), welches mehrere Mikrolinsen (51-54) umfasst, ist vorm Lichtdetektor (60) im Bereich einer Pupillenebene angeordnet. Der Lichtdetektor (60) umfasst hinter jeder Mikrolinse (51-54) jeweils mehrere Detektorelemente (61-65) und hat eine vollständige Auslesefrequenz von mindestens 100 kHz. Mittels der hinter der jeweiligen Mikrolinse (51-54) angeordneten Detektorelemente (61-65) wird eine Wellenfrontinformation bezüglich des Probenlichts (15) bestimmt. Außerdem werden Signale der Detektorelemente (61-65) zu einem Probenpunktsignal zusammengerechnet. Mit dem Scanner (25) wird Beleuchtungslicht (12) nacheinander auf verschiedene Probenpunkte gelenkt und jeweilige Probenpunktsignale werden aufgenommen, wobei für zumindest einige der verschiedenen Probenpunkte auch eine jeweilige Wellenfrontinformation bestimmt wird. Bei einer Berechnung eines Probenbilds aus den mehreren Probenpunktsignalen können die ermittelten Wellenfrontinformationen berücksichtigt werden.
(EN)
A light microscope comprises a scanner (25) for scanning a specimen (35) using illumination light (12) and a light detector (60) for measuring specimen light (15). A microlens array (50), which comprises a plurality of microlenses (51-54), is arranged upstream of the light detector (60) in the region of a pupil plane. The light detector (60) comprises, downstream of each microlens (51-54), a plurality of detector elements (61-65) and has a complete readout frequency of at least 100 kHz. Wavefront information with respect to the specimen light (15) is determined by means of the detector elements (61-65) arranged downstream of each microlens (51-54). Furthermore, signals of the detector elements (61-65) are added together to form a specimen point signal. By means of the scanner (25), illumination light (12) is directed at different specimen points in succession and respective specimen point signals are captured, wavefront information also being determined for at least some of the different specimen points. The determined wavefront information can be used in a calculation of a specimen image from the plurality of specimen point signals.
(FR)
L'invention concerne un microscope optique comprenant un dispositif de balayage (25) destiné à balayer un échantillon (35) avec une lumière d'éclairage (12) et un détecteur de lumière (60) destiné à mesurer la lumière de l'échantillon (15). Un réseau de microlentilles (50), qui comprend plusieurs microlentilles (51-54), est disposé devant le détecteur de lumière (60) dans la région d'un plan pupillaire. Le détecteur de lumière (60) comprend à chaque fois plusieurs éléments de détection (61-65) derrière chaque microlentille (51-54) et possède une fréquence de lecture complète d'au moins 100 kHz. Une information de front d'onde concernant la lumière de l'échantillon (15) est déterminée au moyen des éléments de détection (61-65) disposés derrière les microlentilles (51-54) respectives. Les signaux des éléments de détection (61-65) sont en outre additionnés pour former un signal de point d'échantillonnage. La lumière d'éclairage (12) est dirigée successivement vers différents points de l'échantillon avec le dispositif de balayage (25) et les signaux des points d'échantillon respectifs sont enregistrés, une information de front d'onde respective étant également déterminée pour au moins certains des différents points de l'échantillon. Les informations de front d'onde déterminées peuvent être prises en compte lors du calcul d'un échantillon d'image à partir de plusieurs signaux de points d'échantillon.
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