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1. WO2020093450 - CIRCUIT DE MESURE DE SIGNAL ET PROCÉDÉ DE MESURE ASSOCIÉ

Numéro de publication WO/2020/093450
Date de publication 14.05.2020
N° de la demande internationale PCT/CN2018/116596
Date du dépôt international 21.11.2018
CIB
G09G 3/00 2006.01
GPHYSIQUE
09ENSEIGNEMENT; CRYPTOGRAPHIE; PRÉSENTATION; PUBLICITÉ; SCEAUX
GDISPOSITIONS OU CIRCUITS POUR LA COMMANDE DE L'AFFICHAGE UTILISANT DES MOYENS STATIQUES POUR PRÉSENTER UNE INFORMATION VARIABLE
3Dispositions ou circuits de commande présentant un intérêt uniquement pour l'affichage utilisant des moyens de visualisation autres que les tubes à rayons cathodiques
G01R 19/00 2006.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
RMESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
CPC
G01R 19/0084
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
19Arrangements for measuring currents or voltages or for indicating presence or sign thereof
0084measuring voltage only
G09G 3/006
GPHYSICS
09EDUCATION; CRYPTOGRAPHY; DISPLAY; ADVERTISING; SEALS
GARRANGEMENTS OR CIRCUITS FOR CONTROL OF INDICATING DEVICES USING STATIC MEANS TO PRESENT VARIABLE INFORMATION
3Control arrangements or circuits, of interest only in connection with visual indicators other than cathode-ray tubes
006Electronic inspection or testing of displays and display drivers, e.g. of LED or LCD displays
Déposants
  • 惠科股份有限公司 HKC CORPORATION LIMITED [CN]/[CN]
Inventeurs
  • 黄笑宇 HUANG, Xiaoyu
Mandataires
  • 北京汇泽知识产权代理有限公司 BEIJING HUIZE INTELLECTUAL PROPERTY LAW LLC
Données relatives à la priorité
201811331499.909.11.2018CN
Langue de publication chinois (ZH)
Langue de dépôt chinois (ZH)
États désignés
Titre
(EN) SIGNAL MEASUREMENT CIRCUIT AND MEASUREMENT METHOD THEREOF
(FR) CIRCUIT DE MESURE DE SIGNAL ET PROCÉDÉ DE MESURE ASSOCIÉ
(ZH) 量测信号电路及其量测方法
Abrégé
(EN)
A signal measurement circuit (20) and a measurement method thereof. The signal measurement circuit (20) is separately connected to a scan line and a data line by means of a pad (230) so as to measure waveform signals of the scan line and the data line.
(FR)
L'invention concerne un circuit de mesure de signal (20) et un procédé de mesure associé. Le circuit de mesure de signal (20) est connecté séparément à une ligne de balayage et à une ligne de données au moyen d'une pastille (230) de façon à mesurer des signaux de forme d'onde de la ligne de balayage et de la ligne de données.
(ZH)
一种量测信号电路(20)及其量测方法,量测信号电路(20)通过一垫片(230)分别与一扫描线和一资料线连接,量测扫描线和资料线的波形信号。
Également publié en tant que
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