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1. WO2020070076 - PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE DEGRÉS RELATIFS DE RÉFLEXION D’UNE SURFACE DE MESURE

Numéro de publication WO/2020/070076
Date de publication 09.04.2020
N° de la demande internationale PCT/EP2019/076475
Date du dépôt international 30.09.2019
CIB
G01N 21/55 2014.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
55Réflexion spéculaire
CPC
F24S 23/70
FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
24HEATING; RANGES; VENTILATING
SSOLAR HEAT COLLECTORS; SOLAR HEAT SYSTEMS
23Arrangements for concentrating solar-rays for solar heat collectors
70with reflectors
F24S 50/20
FMECHANICAL ENGINEERING; LIGHTING; HEATING; WEAPONS; BLASTING
24HEATING; RANGES; VENTILATING
SSOLAR HEAT COLLECTORS; SOLAR HEAT SYSTEMS
50Arrangements for controlling solar heat collectors
20for tracking
G01J 1/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRA-RED, VISIBLE OR ULTRA-VIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
1Photometry, e.g. photographic exposure meter
G01N 21/55
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
Déposants
  • FRAUNHOFER-GESELLSCHAFT ZUR FÖRDERUNG DER ANGEWANDTEN FORSCHUNG E. V. [DE]/[DE]
Inventeurs
  • BERN, Gregor
  • SCHÖTTL, Peter
  • HEIMSATH, Anna
  • NITZ, Peter
Mandataires
  • LEMCKE, BROMMER & PARTNER PATENTANWÄLTE PARTNERSCHAFT MBB
Données relatives à la priorité
10 2018 124 368.502.10.2018DE
Langue de publication allemand (DE)
Langue de dépôt allemand (DE)
États désignés
Titre
(DE) VERFAHREN ZUR BESTIMMUNG VON RELATIVEN REFLEXIONSGRADEN EINER MESSFLÄCHE
(EN) METHOD FOR DETERMINING RELATIVE DEGREES OF REFLECTANCE OF A MEASUREMENT SURFACE
(FR) PROCÉDÉ DE DÉTERMINATION DE DEGRÉS RELATIFS DE RÉFLEXION D’UNE SURFACE DE MESURE
Abrégé
(DE)
Die Erfindung betrifft ein Verfahren zur Bestimmung von relativen Reflexionsgraden einer Messfläche, mit den Verfahrensschritten A. Beaufschlagen der Messfläche mit Messstrahlung, so dass ein Messfleck auf der Messfläche entsteht, B. Bewegen des Messflecks entlang zumindest einer ersten geradlinigen Messfleck-Bahn über die Messfläche gemäß einer ersten Bahnbewegung, C. Aufnehmen einer ersten Bildmenge einer Mehrzahl von ortsaufgelösten Bildern der Messfläche während der ersten Bahnbewegung gemäß Schritt B und D. Bestimmen von relativen Reflexionsgraden für eine Mehrzahl von Ortspunkten der Messfläche Die Erfindung ist dadurch gekennzeichnet, dass in Verfahrensschritt B der Messfleck zusätzlich zumindest entlang einer zweiten geradlinigen MessfleckBahn, welche nicht parallel zu der ersten Messfleck-Bahn ist, in einer zweiten Bahnbewegung über die Messfläche bewegt wird, derart, dass ein erster Messbahnbereich der Messfläche, welcher bei der ersten Bahnbewegung durch den Messfleck überstrichen wird mit einem zweiten Messbahnbereich der Messfläche, welcher bei der zweiten Bahnbewegung durch den Messfleck überstrichen wird, zumindest überlappt, dass in Verfahrensschritt C eine Aufnehmen einer zweiten Bildmenge einer Mehrzahl von ortsaufgelösten Bildern der Messfläche während der zweiten Bahnbewegung gemäß Schritt B erfolgt und dass in Verfahrensschritt D eine Auswertung an Schnittpunkten erfolgt, deren Ortspunkte auf der Messfläche durch Auswertelinien definiert sind, wobei eine erste Gruppe von geradlinigen Auswertelinien innerhalb des ersten Messbahnbereichs und zumindest eine zweite Gruppe von geradlinigen Auswertelinien innerhalb des zweiten Messbahnbereichs vorgegeben und/oder bestimmt werden, wobei dieser Gruppen zumindest zwei Auswertelinien aufweist, die beabstandet zueinander sind, die Auswertlinien der ersten Gruppe parallel zu der ersten Messfleck-Bahn und die Auswertelinien der zweiten Gruppe parallel zu der zweiten Messfleck-Bahn sind und jede Auswertelinie der ersten Gruppe einen Schnittpunkt mit jeder Auswertelinie der zweiten Gruppe aufweist, wobei für jede Bildmenge jeweils für jeden Schnittpunkt ein maximaler Grauwert bestimmt wird und dass in Verfahrensschritt D relative Reflexionsgrade der Messfläche zumindest an einer Teilmenge der Schnittpunkte abhängig von diesen maximalen Grauwerten bestimmt werden.
(EN)
The invention relates to a method for determining relative degrees of reflectance of a measurement surface, having the method steps A. Applying measurement radiation to the measurement surface, such that a measurement spot is produced on the management surface, B. moving the measurement spot along at least a first straight measurement spot path, over the measurement surface in accordance with a first path movement, C. recording a first image set of a plurality of locally resolved images of the measurement surface during the first path movement according to step B, and D. determining relative degrees of reflectance for a plurality of local points of the measurement surface. The invention is characterized in that in method step B the measurement spot is additionally moved at least along a second straight measurement path, which is not parallel to the first measurement set path, in a second path movement over the measurement surface, in such a way that a first measurement path region of the measurement surface, over which the measurement sweeps during the first path movement at least overlaps a second measurement path region of the measurement surface over which the measurement spot sweeps during the second path movement, in that in method step C a recording of a second image set of a plurality of locally resolved images of the measurement surface is carried out during the second path movement according to step B, and in that in method step D an evaluation is carried out at intersection points, whose location points on the management surface are defined by evaluation lines, wherein a first group of straight evaluation lines within the first measurement path region and at least a second group of straight evaluation lines within the second measurement path region are predefined and/or determined, wherein these groups have at least two evaluation lines which are spaced apart from each other, the evaluation lines of the first group are parallel to the first measurement spot path and the evaluation lines of the second group are parallel to the second measurement spot path, and each evaluation line of the first group has an intersection point with each evaluation line of the second group, wherein for each image set, in each case for each intersection point, a maximum grey value is determined, and in that in method step D relative degrees of reflectance of the measurements surface are determined at least on a subset of the intersection points, depending on these grey values.
(FR)
L'invention concerne un procédé pour déterminer les degrés relatifs de réflexion d'une surface de mesure, présentant les étapes de procédé A. soumission de la surface de mesure à un rayonnement de mesure, de telle sorte qu'une tache de mesure se forme sur la surface de mesure, B. déplacement de la tache de mesure le long d'au moins un premier trajet linéaire de tache de mesure sur la surface de mesure selon un premier mouvement continu, C. enregistrement d'une première quantité d'images d'une multitude d'images à résolution locale de la surface de mesure pendant le premier mouvement continu selon l'étape B et D. détermination de degrés relatifs de réflexion pour une multitude de points locaux de la surface de mesure. Selon l'invention, dans l'étape de procédé B, la tache de mesure est en outre déplacée au moins le long d'un deuxième trajet linéaire de tache de mesure qui n'est pas parallèle au premier trajet de tache de mesure, dans un deuxième mouvement continu sur la surface de mesure de manière telle qu'une première zone de trajet de mesure de la surface de mesure, qui est balayée par la tache de mesure lors du premier mouvement continu, chevauche au moins une deuxième zone de trajet de mesure de la surface de mesure, qui est balayée lors du deuxième mouvement continu par la tache de mesure. Dans l'étape de procédé C, une deuxième quantité d'images d'une multitude d'images à résolution locale de la surface de mesure est enregistrée pendant le deuxième mouvement continu selon l'étape B. Dans l'étape de procédé D, une évaluation est effectuée au niveau des intersections dont les points locaux sur la surface de mesure sont définis par des lignes d'évaluation. Un premier groupe de lignes linéaires d'évaluation est défini et/ou déterminé dans la première zone de trajet de mesure et au moins un deuxième groupe de lignes linéaires d'évaluation est défini et/ou déterminé dans la deuxième zone de plage de mesure. Ces groupes présentent au moins deux lignes d'évaluation qui sont écartées l'une de l'autre, les lignes d'évaluation du premier groupe étant parallèles au premier trajet de tache de mesure et les lignes d'évaluation du deuxième groupe étant parallèles au deuxième trajet de tache de mesure et chaque ligne d'évaluation du premier groupe présentant une intersection avec chaque ligne d'évaluation du deuxième groupe, une valeur maximale de gris étant déterminée pour chaque quantité d'images, à chaque fois pour chaque intersection. Dans l'étape de procédé D, les degrés relatifs de réflexion de la surface de mesure sont déterminés au moins sur une quantité partielle des intersections en fonction de leur valeur maximale de gris.
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