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1. WO2020068259 - PINCE SACRIFICIELLE POUR LA PRÉPARATION D'ÉCHANTILLONS MINCES POUR LA MICROSCOPIE INFRAROUGE

Numéro de publication WO/2020/068259
Date de publication 02.04.2020
N° de la demande internationale PCT/US2019/043484
Date du dépôt international 25.07.2019
CIB
G01N 21/552 2014.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
55Réflexion spéculaire
552Réflexion totale atténuée
CPC
G01N 21/35
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
35using infra-red light
G01N 21/552
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using infra-red, visible or ultra-violet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
55Specular reflectivity
552Attenuated total reflection
Déposants
  • AGILENT TECHNOLOGIES, INC. [US]/[US]
Inventeurs
  • TELLA, Richard, P.
  • KOLE, Matthew
Mandataires
  • WARD, Calvin, B.
Données relatives à la priorité
62/739,29930.09.2018US
Langue de publication anglais (EN)
Langue de dépôt anglais (EN)
États désignés
Titre
(EN) SACRIFICIAL CLAMP FOR PREPARATION OF THIN SPECIMENS FOR INFRARED MICROSCOPY
(FR) PINCE SACRIFICIELLE POUR LA PRÉPARATION D'ÉCHANTILLONS MINCES POUR LA MICROSCOPIE INFRAROUGE
Abrégé
(EN)
A method for preparing a sample (53) for viewing with an ATR objective and apparatus (50) for holding the sample (53) are disclosed. The ATR objective is applied against a planar ATR reflective surface of the sample (53). The method includes sandwiching the sample (53) between first and second support layers (51, 52) of material and cutting the first and second support layers (51, 52) and the sample (53) so as to generate a cut planar surface having the cut sample (53) between the first and second support layers (51, 52) in a plane. The cut planar surface is placed in contact with the ATR objective with the sample (53) against the ATR reflective surface.
(FR)
L'invention concerne un procédé de préparation d'un échantillon (53) destiné à être visualisé avec un objectif ATR et un appareil (50) destiné à maintenir l'échantillon (53). L'objectif ATR est appliqué contre une surface réfléchissante ATR plane de l'échantillon (53). Le procédé consiste à prendre en sandwich l'échantillon (53) entre des première et seconde couches de support (51, 52) de matériau et à découper les première et seconde couches de support (51, 52) et l'échantillon (53) de sorte à générer une surface plane découpée ayant l'échantillon découpé (53) entre les première et seconde couches de support (51, 52) dans un plan. La surface plane découpée est placée en contact avec l'objectif ATR avec l'échantillon (53) contre la surface réfléchissante ATR.
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