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1. WO2020066196 - PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF

Numéro de publication WO/2020/066196
Date de publication 02.04.2020
N° de la demande internationale PCT/JP2019/026268
Date du dépôt international 02.07.2019
CIB
G06Q 10/00 2012.01
GPHYSIQUE
06CALCUL; COMPTAGE
QSYSTÈMES OU MÉTHODES DE TRAITEMENT DE DONNÉES, SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION; SYSTÈMES OU MÉTHODES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION, NON PRÉVUS AILLEURS
10Administration; Gestion
G01M 99/00 2011.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
MTEST D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES OU DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; TEST DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
99Matière non prévue dans les autres groupes de la présente sous-classe
CPC
G01M 99/00
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
MTESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
99Subject matter not provided for in other groups of this subclass
G06Q 10/00
GPHYSICS
06COMPUTING; CALCULATING; COUNTING
QDATA PROCESSING SYSTEMS OR METHODS, SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL, SUPERVISORY OR FORECASTING PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
10Administration; Management
Déposants
  • 株式会社テイエルブイ TLV CO., LTD. [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 藤原良康 FUJIWARA Yoshiyasu
  • 小田和則 ODA Kazunori
  • 宮前嘉夫 MIYAMAE Yoshio
  • 片山芳明 KATAYAMA Yoshiaki
Mandataires
  • 特許業務法人R&C R&C IP LAW FIRM
Données relatives à la priorité
2018-18245027.09.2018JP
Langue de publication japonais (JA)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) DEVICE LIFESPAN ASSESSMENT METHOD, DEVICE LIFESPAN ASSESSMENT DEVICE AND DEVICE LIFESPAN ASSESSMENT PROGRAM
(FR) PROCÉDÉ D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF, DISPOSITIF D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF ET PROGRAMME D'ÉVALUATION DE DURÉE DE VIE DE DISPOSITIF
(JA) 装置寿命評価方法、装置寿命評価装置、および装置寿命評価プログラム
Abrégé
(EN)
This device lifespan assessment method is characterized by having: a diagnosis step for inspecting a plurality of plant devices (1) of a model to be assessed which are operating in a plant (P), and diagnosing the operating status of each of the plant devices (1) on the basis of the inspection results; an accumulation step for accumulating operation start time information, inspection time period information and operating status information in a storage device for each of the plant devices (1); and a calculation step for calculating the device lifespan of the model to be assessed on the basis of the operation start time information, inspection time period information and operating status information.
(FR)
L’invention ‌concerne‌ ‌un‌ procédé d'évaluation de durée de vie de dispositif qui est caractérisé en ce qu'il comprend : une étape de diagnostic consistant à inspecter une pluralité de dispositifs d'installation (1) d'un modèle à évaluer qui fonctionnent dans une installation (P), et à diagnostiquer l'état de fonctionnement de chacun des dispositifs d'installation (1) sur la base des résultats d'inspection ; une étape d'accumulation consistant à accumuler des informations de temps de début d'opération, des informations de période de temps d'inspection et des informations d'état de fonctionnement dans un dispositif de stockage pour chacun des dispositifs d'installation (1); et une étape de calcul consistant à calculer la durée de vie de dispositif du modèle à évaluer sur la base des informations de temps de début de fonctionnement, des informations de période de temps d'inspection et des informations d'état de fonctionnement.
(JA)
本発明に係る装置寿命評価方法は、評価対象機種の複数のプラント機器(1)であってプラント(P)において稼働しているものの検査を行い、当該検査の結果に基づいて、各プラント機器(1)の稼働状態の診断を行う診断工程と、各プラント機器(1)について、稼働始期情報、検査時期情報、および、稼働状態情報、を記憶装置に蓄積する蓄積工程と、稼働始期情報、検査時期情報、および、稼働状態情報に基づいて、評価対象機種の装置寿命を演算する演算工程と、を有することを特徴とする。
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