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1. WO2020021136 - PROCÉDÉ POUR OBTENIR DES POINTES DE DÉTECTION POUR MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE FONCTIONNALISÉES PAR SILANISATION PAR VAPEUR ACTIVÉE, ET POINTES OBTENUES SELON LEDIT PROCÉDÉ

Numéro de publication WO/2020/021136
Date de publication 30.01.2020
N° de la demande internationale PCT/ES2019/070456
Date du dépôt international 28.06.2019
CIB
G01Q 70/18 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
70Aspects généraux des sondes SPM, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, dans la mesure où ces sondes ne sont pas spécialement adaptées à une seule technique SPM couverte par le groupe G01Q60/230
16Fabrication des sondes
18Fonctionnalisation
G01Q 60/42 2010.01
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
QTECHNIQUES OU APPAREILS À SONDE À BALAYAGE; APPLICATIONS DES TECHNIQUES DE SONDE À BALAYAGE, p.ex. MICROSCOPIE À SONDE À BALAYAGE
60Types particuliers de microscopie à sonde à balayage SPM ou appareils à cet effet; Composants essentiels de ceux-ci
24Microscopie à forces atomiques AFM ou appareils à cet effet, p.ex. sondes AFM
38Sondes, leur fabrication ou leur instrumentation correspondante, p.ex. supports
42Fonctionnalisation
CPC
G01Q 60/42
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
60Particular types of SPM [Scanning Probe Microscopy] or microscopes; Essential components thereof
24AFM [Atomic Force Microscopy] or apparatus therefor, e.g. AFM probes
38Probes, their manufacture, or their related instrumentation, e.g. holders
42Functionalisation
G01Q 70/18
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
QSCANNING-PROBE TECHNIQUES OR APPARATUS; APPLICATIONS OF SCANNING-PROBE TECHNIQUES, e.g. SCANNING PROBE MICROSCOPY [SPM]
70General aspects of SPM probes, their manufacture or their related instrumentation, insofar as they are not specially adapted to a single SPM technique covered by group G01Q60/00
16Probe manufacture
18Functionalisation
Déposants
  • UNIVERSIDAD POLITÉCNICA DE MADRID [ES]/[ES]
Inventeurs
  • PÉREZ RIGUEIRO, José
  • GUINEA TORTUERO, Gustavo Víctor
  • DAZA GARCÍA, Rafael
  • COLCHERO PAETZ, Luis
Mandataires
  • UNGRÍA LÓPEZ, Javier
Données relatives à la priorité
P20183077727.07.2018ES
Langue de publication espagnol (ES)
Langue de dépôt espagnol (ES)
États désignés
Titre
(EN) METHOD FOR OBTAINING FUNCTIONALISED SENSOR TIPS FOR ATOMIC FORCE MICROSCOPY BY MEANS OF ACTIVATED VAPOUR SILANISATION AND TIPS OBTAINED USING SAID METHOD
(ES) MÉTODO PARA OBTENER PUNTAS SENSORAS DE MICROSCOPÍA DE FUERZA ATÓMICA FUNCIONALIZADAS MEDIANTE SILANIZACIÓN POR VAPOR ACTIVADO, Y LAS PUNTAS OBTENIDAS POR DICHO MÉTODO
(FR) PROCÉDÉ POUR OBTENIR DES POINTES DE DÉTECTION POUR MICROSCOPIE À FORCE ATOMIQUE FONCTIONNALISÉES PAR SILANISATION PAR VAPEUR ACTIVÉE, ET POINTES OBTENUES SELON LEDIT PROCÉDÉ
Abrégé
(EN)
The invention relates to a method for obtaining a functionalised sensor tip for atomic force microscopy, which is characterised in that functionalisation takes place by means of an activated vapour silanisation process, comprising: a) evaporating an organometallic compound containing at least one silicon atom and at least one functional group selected from an amine group, a hydroxyl group, a carboxyl group and a thiol group; b) activating the vapour of the organometallic compound of step a) by heating; and c) causing the activated vapour of step b) to impinge on a sensor tip for atomic force microscopy in order to deposit a film of the organometallic compound on the sensor tip, steps b) and c) taking place consecutively. The invention also relates to the functionalised sensor tip obtained using the method.
(ES)
Un método para obtener una punta sensora de microscopia de fuerza atómica funcionalizada, caracterizado porque la funcionalización tiene lugar mediante un proceso de silanización por vapor activado que comprende: a) evaporar un compuesto organometálico que contiene al menos un átomo de silicio y al menos un grupo funcional seleccionado entre amino, hidroxilo, carboxilo y sulfidrilo; b) activar el vapor del compuesto organometálico de la etapa a) mediante calentamiento; y c) hacer incidir el vapor activado dela etapa b) en una punta sensora para microscopia de fuerza atómica para depositar una lámina del compuesto organometálico sobre dicha punta sensora; donde las etapas b) y c) tienen lugar de forma consecutiva. Así como la punta sensora funcionalizada obtenida por dicho método.
(FR)
L'invention concerne un procédé pour obtenir une pointe de détection pour microscopie à force atomique fonctionnnalisée, caractérisé en ce que la fonctionnalisation se produit grâce à un procédé de silanisation par vapeur activée qui comprend les étapes consistant à : a) évaporer un composé organométallique qui contient au moins un atome de silicium et au moins un groupe fonctionnel sélectionné parmi amino, hydroxyle, carboxyle et sulphydryle ; b) activer la vapeur du composé organométallique de l'étape a) par chauffage ; et c) faire incider la vapeur activée de l'étape b) dans une pointe de détection pour microcopie à force atomique pour déposer une feuille du composé organométallique sur ladite pointe de détection ; les étapes b) et c) se déroulant de manière consécutive. L'invention concerne également la pointe de détection fonctionnalisée obtenue selon ledit procédé.
Également publié en tant que
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