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1. WO2019198308 - DISPOSITIF D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON

Numéro de publication WO/2019/198308
Date de publication 17.10.2019
N° de la demande internationale PCT/JP2019/003226
Date du dépôt international 30.01.2019
CIB
G02B 21/06 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
06Moyens pour éclairer un échantillon
G01N 21/47 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
G01N 21/64 2006.1
GPHYSIQUE
01MÉTROLOGIE; TESTS
NRECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63excité optiquement
64Fluorescence; Phosphorescence
G02B 21/26 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
24Structure du bâti ou statif
26Platines; Moyens de réglage pour celles-ci
G02B 21/36 2006.1
GPHYSIQUE
02OPTIQUE
BÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
21Microscopes
36aménagés pour la photographie ou la projection
CPC
G01N 2021/6439
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
6428Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
6439with indicators, stains, dyes, tags, labels, marks
G01N 21/49
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
47Scattering, i.e. diffuse reflection
49within a body or fluid
G01N 21/6428
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
6428Measuring fluorescence of fluorescent products of reactions or of fluorochrome labelled reactive substances, e.g. measuring quenching effects, using measuring "optrodes"
G01N 21/6456
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
645Specially adapted constructive features of fluorimeters
6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
G01N 21/6458
GPHYSICS
01MEASURING; TESTING
NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
21Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
63optically excited
64Fluorescence; Phosphorescence
645Specially adapted constructive features of fluorimeters
6456Spatial resolved fluorescence measurements; Imaging
6458Fluorescence microscopy
G02B 21/0032
GPHYSICS
02OPTICS
BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS, OR APPARATUS
21Microscopes
0004specially adapted for specific applications
002Scanning microscopes
0024Confocal scanning microscopes (CSOMs) or confocal "macroscopes"; Accessories which are not restricted to use with CSOMs, e.g. sample holders
0032Optical details of illumination, e.g. light-sources, pinholes, beam splitters, slits, fibers
Déposants
  • 浜松ホトニクス株式会社 HAMAMATSU PHOTONICS K.K. [JP]/[JP]
Inventeurs
  • 山本 諭 YAMAMOTO Satoshi
Mandataires
  • 長谷川 芳樹 HASEGAWA Yoshiki
  • 黒木 義樹 KUROKI Yoshiki
  • 柴山 健一 SHIBAYAMA Kenichi
Données relatives à la priorité
2018-07486509.04.2018JP
Langue de publication Japonais (ja)
Langue de dépôt japonais (JA)
États désignés
Titre
(EN) SAMPLE OBSERVATION DEVICE AND SAMPLE OBSERVATION METHOD
(FR) DISPOSITIF D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON ET PROCÉDÉ D'OBSERVATION D'ÉCHANTILLON
(JA) 試料観察装置及び試料観察方法
Abrégé
(EN) A sample observation device 1 comprises: an illumination optical system 3 for shining a sheet of light L2 in the X-Z plane on a sample S; a sweeping unit 4 for sweeping the sample S in the Y-axis direction so as to pass through the illumination plane R of the sheet of light L2; an imaging optical system 5 which has an observation axis P2 inclined relative to the illumination plane R and images observation light L3 generated by the sample S; an image acquisition unit 6 for acquiring a plurality of pieces of X-Z image data 31 corresponding to the optical image of the observation light L3; and an image generation unit 8 for generating X-Y image data 32 on the basis of the plurality of pieces of X-Z image data 31. The image generation unit 8 extracts an analysis area F for the plurality of pieces of X-Z image data 31 acquired along the Y-axis direction, integrates luminance values at least for the analysis area F along the Z-axis direction to generate X image data 33, and connects the X image data 33 along the Y-axis direction to generate X-Y image data 32.
(FR) Un dispositif d'observation d'échantillon 1 selon l'invention comprend : un système optique d'éclairage 3 pour éclairer une feuille de lumière L2 dans le plan X-Z sur un échantillon S ; une unité de balayage 4 pour balayer l'échantillon S dans la direction de l'axe Y de façon à passer à travers le plan d'éclairage R de la feuille de lumière L2 ; un système optique d'imagerie 5 qui a un axe d'observation P2 incliné par rapport au plan d'éclairage R et image une lumière d'observation L3 générée par l'échantillon S ; une unité d'acquisition d'image 6 pour acquérir une pluralité d'éléments de données d'image X-Z 31 correspondant à l'image optique de la lumière d'observation L3 ; et une unité de génération d'image 8 pour générer des données d'image X-Y 32 sur la base de la pluralité d'éléments de données d'image X-Z 31. L'unité de génération d'image 8 extrait une zone d'analyse F pour la pluralité d'éléments de données d'image X-Z 31 acquis le long de la direction de l'axe Y, intègre des valeurs de luminance au moins pour la zone d'analyse F le long de la direction d'axe Z pour générer des données d'image X 33, et connecte les données d'image X 33 le long de la direction d'axe Y pour générer des données d'image X-Y 32.
(JA) 試料観察装置1は、試料Sに面状光L2をXZ面で照射する照射光学系3と、面状光L2の照射面Rを通過するように試料SをY軸方向に走査する走査部4と、照射面Rに対して傾斜する観察軸P2を有し、試料Sで発生した観察光L3を結像する結像光学系5と、観察光L3の光像に対応するXZ画像データ31を複数取得する画像取得部6と、複数のXZ画像データ31に基づいてXY画像データ32を生成する画像生成部8と、を備え、画像生成部8は、Y軸方向について複数取得されたXZ画像データ31の解析領域Fを抽出し、少なくとも解析領域Fの輝度値をZ軸方向に積算してX画像データ33を生成し、X画像データ33をY軸方向に結合してXY画像データ32を生成する。
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