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1. (WO2019067774) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE MESURE DE DIVERSES PROPRIÉTÉS D'UN OBJET
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N° de publication : WO/2019/067774 N° de la demande internationale : PCT/US2018/053203
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 27.09.2018
CIB :
G01B 21/04 (2006.01) ,G01B 11/00 (2006.01) ,G01B 7/008 (2006.01) ,G01B 5/008 (2006.01) ,G01N 29/265 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04
en mesurant les coordonnées de points
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
(Obsolète)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
7
Dispositions de mesure caractérisées par l'utilisation de moyens électriques ou magnétiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
06
pour mesurer l'épaisseur
08
utilisant des moyens capacitifs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
08
pour mesurer des diamètres
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
29
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi d'ondes ultrasonores, sonores ou infrasonores; Visualisation de l'intérieur d'objets par transmission d'ondes ultrasonores ou sonores à travers l'objet
22
Détails
26
Dispositions pour l'orientation ou le balayage
265
en déplaçant le capteur par rapport à un matériau fixe
Déposants :
HEXAGON METROLOGY, INC. [US/US]; 250 Circuit Drive North Kingstown, Rhode Island 02852, US
Inventeurs :
DEMITER, David; US
Mandataire :
DELANEY, Karoline, A.; US
Données relatives à la priorité :
62/564,44128.09.2017US
Titre (EN) SYSTEMS AND METHODS FOR MEASURING VARIOUS PROPERTIES OF AN OBJECT
(FR) SYSTÈMES ET PROCÉDÉS DE MESURE DE DIVERSES PROPRIÉTÉS D'UN OBJET
Abrégé :
(EN) Apparatus adapted to perform a method for measuring various properties of an object, the method comprising: - mounting a first measuring device to an end of an articulated arm coordinate measuring machine, - measuring three dimensional coordinates of a surface of an object using the first device, - mounting a second measuring device to the end of the articulated arm coordinate measuring machine, and - measuring a second property of the object using the second measuring device after the three dimensional coordinates have been measured.
(FR) L'invention concerne un appareil conçu pour effectuer un procédé de mesure de diverses propriétés d'un objet, le procédé consistant à : - monter un premier dispositif de mesure sur une extrémité d'une machine de mesure de coordonnées à bras articulé, - mesurer des coordonnées tridimensionnelles d'une surface d'un objet à l'aide du premier dispositif, - monter un deuxième dispositif de mesure sur l'extrémité de la machine de mesure de coordonnées à bras articulé, et - mesurer une deuxième propriété de l'objet à l'aide du deuxième dispositif de mesure après que les coordonnées tridimensionnelles ont été mesurées.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)