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1. (WO2019067755) CONFIGURATION DE DISPOSITIF DE MESURE COMPACT POUR INTÉGRER DES CIRCUITS COMPLEXES
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N° de publication : WO/2019/067755 N° de la demande internationale : PCT/US2018/053176
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 27.09.2018
CIB :
G01B 5/008 (2006.01) ,G01B 5/00 (2006.01) ,G01B 11/02 (2006.01) ,G01B 11/03 (2006.01) ,G01B 21/04 (2006.01) ,G01S 7/481 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
08
pour mesurer des diamètres
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
5
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens mécaniques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
03
en mesurant les coordonnées de points
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
21
Dispositions pour la mesure ou leurs détails pour autant qu'ils ne soient pas adaptés à des types particuliers de moyens de mesure faisant l'objet des autres groupes de la présente sous-classe
02
pour mesurer la longueur, la largeur ou l'épaisseur
04
en mesurant les coordonnées de points
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
S
DÉTERMINATION DE LA DIRECTION PAR RADIO; RADIO-NAVIGATION; DÉTERMINATION DE LA DISTANCE OU DE LA VITESSE EN UTILISANT DES ONDES RADIO; LOCALISATION OU DÉTECTION DE LA PRÉSENCE EN UTILISANT LA RÉFLEXION OU LA RERADIATION D'ONDES RADIO; DISPOSITIONS ANALOGUES UTILISANT D'AUTRES ONDES
7
Détails des systèmes correspondant aux groupes G01S13/, G01S15/, G01S17/135
48
de systèmes selon le groupe G01S17/56
481
Caractéristiques de structure, p.ex. agencements d'éléments optiques
Déposants :
MITUTOYO CORPORATION [JP/JP]; 20-1, Sakado 1-Chome, Takatsu-ku Kawasaki-shi, Kanagawa-ken 213-8533, JP
Inventeurs :
QI, Bernadette, Baqui; US
WISSNER, Richard, Alan; US
Mandataire :
LEEK, Shoko, I.; US
OBEIDAT, Baha, A.; US
KUMABE, Blake, K.; US
SOLTANI, Bobby, B.; US
ZENTZ, Bradley, J.; US
SARGEANT, Brooke; US
QUIST, Brooke, W.; US
O'BRIEN, Daniel; US
ROTH, Carol, J.; US
EIDT, Chandra, E.; US
STARK, Duncan; US
CARLSON, David, V.; US
TARLETON, E., Russell; US
SUN, Eileen, S.; US
HARWOOD, Eric, A.; US
GERTZ, Glenda, A.; US
HAN, Hai; US
TALBERT, Hayley, J.; US
WHITE, James, A. D.; US
BARRETT, Jared, M.; US
PEPE, Jeffrey, C.; US
DANLEY, Jeffrey, E.; US
SAKOI, Jeffrey, M.; US
BAUNACH, Jeremiah, J.; US
KARLEN, John, R.; US
MORGAN, John, A.; US
WAKELEY, John, J.; US
COE, Justin, E.; US
HENCKEL, Karen, M.; US
HEFTER, Karl, A.; US
HERMANNS, Karl, R.; US
MORGAN, Kevan, L.; US
COSTANZA, Kevin, S.; US
COOPER, Michael, P.; US
RUSYN, Paul; US
LIN, Qing; US
HALLER, Rachel, A.; US
IANNUCCI, Robert; US
WEBB, Samuel, E.; US
ROSENMAN, Stephen, J.; US
ABEDI, Syed; US
SHEWMAKE, Thomas, A.; US
SATAGAJ, Thomas, J.; US
BOLLER, Timothy, L.; US
LIGON, Toby, J.; US
CANTRELL, Tyler, C.; US
FERRON, William, O., Jr.; US
Données relatives à la priorité :
62/565,96129.09.2017US
Titre (EN) COMPACT MEASUREMENT DEVICE CONFIGURATION FOR INTEGRATING COMPLEX CIRCUITS
(FR) CONFIGURATION DE DISPOSITIF DE MESURE COMPACT POUR INTÉGRER DES CIRCUITS COMPLEXES
Abrégé :
(EN) A compact coordinate measuring machine (CMM) probe configuration is provided for integrating complex circuits into a CMM probe. The CMM probe configuration includes a stylus position detection portion, a stylus suspension portion and a circuit board assembly. The stylus position detection portion includes an alignment frame and an optical sensing configuration. The circuit board assembly includes a rigid flex circuit element and a three dimensional carrier frame. The rigid flex circuit element includes a set of board portions joined by a set of flexible bend portions. The rigid flex circuit element is folded at the bend portions to locate some of the board portions to be proximate to and/or joined to corresponding support surfaces on the carrier frame. The circuit board assembly at least partially surrounds a majority of the stylus position detection portion and is joined thereto with the carrier frame fixed relative to the alignment frame.
(FR) La présente invention concerne une configuration de sonde de machine de mesure de coordonnées compacte (CMM) pour intégrer des circuits complexes dans une sonde de CMM. La configuration de sonde de CMM comprend une partie de détection de position de stylet, une partie de suspension de stylet et un ensemble de carte de circuit imprimé. La partie de détection de position de stylet comprend un cadre d'alignement et une configuration de détection optique. L'ensemble de carte de circuit imprimé comprend un élément de circuit flexible rigide et un cadre de support tridimensionnel. L'élément de circuit flexible rigide comprend un ensemble de parties de carte assemblées par un ensemble de parties de courbure flexibles. L'élément de circuit flexible rigide est plié au niveau des parties de courbure pour localiser certaines des parties de carte à proximité de, et/ou assemblées à des surfaces de support correspondantes sur le cadre de support. L'ensemble de carte de circuit imprimé entoure au moins partiellement la majorité de la partie de détection de position de stylet et est assemblé à celle-ci avec le cadre de support fixé par rapport au cadre d'alignement.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)