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1. (WO2019067724) FILMS DE PÉROVSKITE À HALOGÉNURE DE MÉTAL ALCALIN ÉPAIS POUR IMAGEURS À RAYONS X À ÉCRAN PLAT À FAIBLE DOSE
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N° de publication : WO/2019/067724 N° de la demande internationale : PCT/US2018/053131
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 27.09.2018
CIB :
G01T 1/00 (2006.01) ,G01T 1/16 (2006.01) ,G01T 1/24 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16
Mesure de l'intensité de radiation
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16
Mesure de l'intensité de radiation
24
avec des détecteurs à semi-conducteurs
Déposants :
NORTHWESTERN UNIVERSITY [US/US]; 633 Clark Street Evanston, Illinois 60208, US
Inventeurs :
KANATZIDIS, Mercouri G.; US
XU, Yadong; US
Mandataire :
MANNING, Michelle; US
BELL, Callie M.; US
POREMBSKI, N. Meredith; US
KALAFUT, Christopher L.; US
Données relatives à la priorité :
62/565,35829.09.2017US
Titre (EN) THICK ALKALI METAL HALIDE PEROVSKITE FILMS FOR LOW DOSE FLAT PANEL X-RAY IMAGERS
(FR) FILMS DE PÉROVSKITE À HALOGÉNURE DE MÉTAL ALCALIN ÉPAIS POUR IMAGEURS À RAYONS X À ÉCRAN PLAT À FAIBLE DOSE
Abrégé :
(EN) Methods and devices that use alkali metal chalcohalides having the chemical formula A2TeX6, wherein A is Cs or Rb and X is I or Br, to convert hard radiation, such as X-rays, gamma-rays, and/or alpha-particles, into an electric signal are provided. The devices include optoelectronic and photonic devices, such as photodetectors and photodiodes. The method includes exposing the alkali metal chalcohalide material to incident radiation, wherein the material absorbs the incident radiation and electron-hole pairs are generated in the material. A detector is configured to measure a signal generated by the electron-hole pairs that are formed when the material is exposed to incident radiation.
(FR) L'invention concerne des procédés et des dispositifs utilisant des chalcohalides de métal alcalin possédant la formule chimique A2TeX6, A correspondant à du Cs ou du Rb et X correspondant à du I ou du Br, afin de convertir un rayonnement dur, tel que des rayons X, des rayons gamma et/ou des particules alpha, en un signal électrique. Les dispositifs comprennent des dispositifs optoélectroniques et photoniques, tels que des photodétecteurs et des photodiodes. Le procédé comprend l'exposition du matériau de chalcohalides de métal alcalin à un rayonnement incident, le matériau absorbant le rayonnement incident et des paires électron-trou étant générées dans le matériau. Un détecteur est conçu pour mesurer un signal généré par les paires électron-trou formées lorsque le matériau est exposé au rayonnement incident.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)