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1. (WO2019067450) SYSTÈMES DE DÉTECTION OPTIQUE ÉPITAXIAUX CONNECTÉS
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N° de publication : WO/2019/067450 N° de la demande internationale : PCT/US2018/052669
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 25.09.2018
CIB :
G01J 1/42 (2006.01) ,G01J 1/02 (2006.01) ,H01S 5/026 (2006.01) ,H01S 5/0683 (2006.01) ,H01S 5/40 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
1
Photométrie, p.ex. posemètres photographiques
42
en utilisant des détecteurs électriques de radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
1
Photométrie, p.ex. posemètres photographiques
02
Parties constitutives
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
S
DISPOSITIFS UTILISANT L'ÉMISSION STIMULÉE
5
Lasers à semi-conducteurs
02
Détails ou composants structurels non essentiels au fonctionnement laser
026
Composants intégrés monolithiques, p.ex. guides d'ondes, photodétecteurs de surveillance ou dispositifs d'attaque
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
S
DISPOSITIFS UTILISANT L'ÉMISSION STIMULÉE
5
Lasers à semi-conducteurs
06
Dispositions pour commander les paramètres de sortie du laser, p.ex. en agissant sur le milieu actif
068
Stabilisation des paramètres de sortie du laser
0683
en surveillant les paramètres optiques de sortie
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
S
DISPOSITIFS UTILISANT L'ÉMISSION STIMULÉE
5
Lasers à semi-conducteurs
40
Agencement de plusieurs lasers à semi-conducteurs, non prévu dans les groupes H01S5/02-H01S5/30130
Déposants :
MASSETA TECHNOLOGIES LLC [US/US]; Corporation Trust Center 1209 Orange Street Wilmington, Delaware 19801, US
Inventeurs :
Mandataire :
NGUYEN, Jean; US
Données relatives à la priorité :
62/566,02729.09.2017US
Titre (EN) CONNECTED EPITAXIAL OPTICAL SENSING SYSTEMS
(FR) SYSTÈMES DE DÉTECTION OPTIQUE ÉPITAXIAUX CONNECTÉS
Abrégé :
(EN) A device including a plurality of epitaxial chips is disclosed. An epitaxial chip can have one or more of a light source and a detector, where the detector can be configured to measure the optical properties of the light emitted by a light source. In some examples, one or more epitaxial chips can have one or more optical properties that differ from other epitaxial chips. The epitaxial chips can be dependently operable. For example, the detector located on one epitaxial chip can be configured for measuring the optical properties of light emitted by a light source located on another epitaxial chip by way of one or more optical signals. The collection of epitaxial chips can also allow detection of a plurality of laser outputs, where two or more epitaxial chips can have different material and/or optical properties.
(FR) L'invention concerne un dispositif comprenant une pluralité de puces épitaxiales. Une puce épitaxiale peut avoir un ou plusieurs parmi une source de lumière et un détecteur, le détecteur pouvant être conçu pour mesurer les propriétés optiques de la lumière émise par une source de lumière. Selon certains exemples, une ou plusieurs puces épitaxiales peuvent avoir une ou plusieurs propriétés optiques qui diffèrent de celles des autres puces épitaxiales. Les puces épitaxiales peuvent fonctionner de manière dépendante. Par exemple, le détecteur situé sur une puce épitaxiale peut être conçu pour mesurer les propriétés optiques d'une lumière émise par une source de lumière située sur une autre puce épitaxiale au moyen d'un ou de plusieurs signaux optiques. La collecte de puces épitaxiales peut également permettre la détection d'une pluralité de sorties laser, deux, ou plus, puces épitaxiales pouvant avoir des propriétés matérielles et/ou optiques différentes.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)