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1. (WO2019066551) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE PRÉDICTION DE TAUX DE DÉFAILLANCE DE CONTACTEUR
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N° de publication : WO/2019/066551 N° de la demande internationale : PCT/KR2018/011524
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 28.09.2018
CIB :
G01R 31/00 (2006.01) ,G01R 31/04 (2006.01) ,G01R 19/145 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
02
Essai des appareils, des lignes ou des composants électriques pour y déceler la présence de courts-circuits, de discontinuités, de fuites ou de connexions incorrectes de lignes
04
Essai de connexions, p.ex. de fiches de prises de courant, de raccords non déconnectables
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19
Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
145
Indication de l'existence d'un courant ou d'une tension
Déposants :
주식회사 엘지화학 LG CHEM, LTD. [KR/KR]; 서울시 영등포구 여의대로 128 128, Yeoui-daero, Yeongdeungpo-gu, Seoul 07336, KR
Inventeurs :
조현기 CHO, Hyunki; KR
성창현 SUNG, Chang Hyun; KR
이상훈 LEE, Sang Hoon; KR
최연식 CHOI, Yean Sik; KR
Mandataire :
정순성 CHUNG, Soon-Sung; KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-012721529.09.2017KR
Titre (EN) CONTACTOR FAILURE RATE PREDICTION SYSTEM AND METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE PRÉDICTION DE TAUX DE DÉFAILLANCE DE CONTACTEUR
(KO) 컨텍터의 고장률 예측 시스템 및 방법
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a contactor failure rate prediction system and method, which calculate a lifespan index of the contactor on the basis of whether primary-side and secondary-side through-currents are normal and determine that a failure rate of the contactor increases when a count value for an abnormal through-current exceeds a preset threshold, thereby enabling a failure rate or a lifespan to be predicted and diagnosed in advance before a failure of the contactor occurs.
(FR) La présente invention concerne un système et un procédé de prédiction de taux de défaillance de contacteur, qui calculent un indice de durée de vie du contacteur selon que des courants traversants côté primaire et côté secondaire sont normaux ou non et qui déterminent qu'un taux de défaillance du contacteur augmente lorsqu'une valeur de comptage d'un courant traversant anormal dépasse un seuil prédéfini, ce qui permet de prédire et de diagnostiquer à l'avance un taux de défaillance ou une durée de vie avant qu'une défaillance du contacteur ne se produise.
(KO) 본 발명은 컨텍터의 1차측 및 2차측의 통전 전류의 정상여부를 토대로 컨텍터의 수명 지수를 카운트 하며, 비정상적인 통전 전류에 대한 카운트값이 기 설정된 임계값을 초과하는 경우 컨텍터의 고장률이 증가되는 것으로 판단함으로써, 컨텍터의 고장 발생 이전에 미리 고장률 혹은 수명을 예측 진단할 수 있는 컨텍터의 고장률 예측 시스템 및 방법에 관한 것이다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)