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1. (WO2019066410) CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ ET APPAREIL DE MESURE DE QUALITÉ DE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ
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N° de publication : WO/2019/066410 N° de la demande internationale : PCT/KR2018/011257
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 21.09.2018
CIB :
H05K 1/02 (2006.01) ,H05K 13/08 (2006.01) ,H01Q 1/38 (2006.01) ,G01R 31/28 (2006.01) ,G01R 1/067 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
05
TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
K
CIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
1
Circuits imprimés
02
Détails
H ÉLECTRICITÉ
05
TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
K
CIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
13
Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication ou l'ajustage d'ensembles de composants électriques
08
Contrôle de la fabrication des ensembles
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
Q
ANTENNES
1
Détails de dispositifs associés aux antennes
36
Forme structurale pour éléments rayonnants, p.ex. cône, spirale, parapluie
38
formés par une couche conductrice sur un support isolant
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
28
Essai de circuits électroniques, p.ex. à l'aide d'un traceur de signaux
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
Déposants :
삼성전자 주식회사 SAMSUNG ELECTRONICS CO., LTD. [KR/KR]; 경기도 수원시 영통구 삼성로 129 129, Samsung-ro, Yeongtong-gu Suwon-si Gyeonggi-do 16677, KR
Inventeurs :
홍은석 HONG, Eun Seok; KR
김성진 KIM, Sung Jin; KR
Mandataire :
특허법인 태평양 BAE, KIM & LEE IP GROUP; 서울시 서초구 강남대로 343, 11층 11th Floor, 343, Gangnam-daero Seocho-gu Seoul 06626, KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-012755229.09.2017KR
Titre (EN) PRINTED CIRCUIT BOARD, AND APPARATUS FOR MEASURING QUALITY OF PRINTED CIRCUIT BOARD
(FR) CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ ET APPAREIL DE MESURE DE QUALITÉ DE CARTE DE CIRCUIT IMPRIMÉ
(KO) 인쇄회로기판, 및 인쇄회로기판의 품질 측정 장치
Abrégé :
(EN) A printed circuit board according to various embodiments of the present invention may comprise: a plurality of layers having at least one opening formed therein; and at least one antenna included in at least one layer of the plurality of layers, wherein the at least one opening is located within a designated distance from the at least one antenna, and may be formed to extend through at least one of the plurality of layers.
(FR) Selon divers modes de réalisation, la présente invention concerne une carte de circuit imprimé qui peut comprendre : une pluralité de couches dans lesquelles au moins une ouverture est formée ; et au moins une antenne incluse dans au moins une couche de la pluralité de couches, la ou les ouvertures étant situées à moins d'une distance désignée de la ou des antennes, et pouvant être formées pour s'étendre à travers au moins une couche de la pluralité de couches.
(KO) 본 발명의 다양한 실시 예에 따른 인쇄회로기판은, 적어도 하나의 개구부가 형성된 복수의 레이어 및 상기 복수의 레이어 중 적어도 하나의 레이어에 포함된 적어도 하나의 안테나를 포함하고, 상기 적어도 하나의 개구부는 상기 적어도 하나의 안테나로부터 지정된 거리 내에 위치하고 상기 복수의 레이어 중 적어도 하나를 관통하도록 형성될 수 있다.
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Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)