Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2019064734) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE CALCUL, PROCÉDÉ DE CALCUL POUR DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE CALCUL, ET PROGRAMME
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2019/064734 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/023300
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 19.06.2018
CIB :
B29C 45/76 (2006.01)
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
29
TRAVAIL DES MATIÈRES PLASTIQUES; TRAVAIL DES SUBSTANCES À L'ÉTAT PLASTIQUE EN GÉNÉRAL
C
FAÇONNAGE OU ASSEMBLAGE DES MATIÈRES PLASTIQUES; FAÇONNAGE DES SUBSTANCES À L'ÉTAT PLASTIQUE EN GÉNÉRAL; POST-TRAITEMENT DES PRODUITS FAÇONNÉS, p.ex. RÉPARATION
45
Moulage par injection, c. à d. en forçant un volume déterminé de matière à mouler par une buse d'injection dans un moule fermé; Appareils à cet effet
17
Eléments constitutifs, détails ou accessoires; Opérations auxiliaires
76
Mesure, commande ou régulation
Déposants :
双葉電子工業株式会社 FUTABA CORPORATION [JP/JP]; 千葉県茂原市大芝629 629 Oshiba, Mobara-shi, Chiba 2978588, JP
日本電産サンキョー株式会社 NIDEC SANKYO CORPORATION [JP/JP]; 長野県諏訪郡下諏訪町5329番地 5329, Shimosuwa-machi, Suwa-gun, Nagano 3938511, JP
Inventeurs :
嶌野 浩充 SHIMANO, Hiromichi; JP
鶴岡 達也 TSURUOKA, Tatsuya; JP
齋藤 芳之 SAITO, Yoshiyuki; JP
野原 康弘 NOHARA, Yasuhiro; JP
中西 徹 NAKANISHI, Toru; JP
Mandataire :
瀧野 文雄 TAKINO, Fumio; JP
津田 俊明 TSUDA, Toshiaki; JP
福田 康弘 FUKUDA, Yasuhiro; JP
Données relatives à la priorité :
2017-18471226.09.2017JP
Titre (EN) COMPUTATION PROCESSING DEVICE, COMPUTATION METHOD FOR COMPUTATION PROCESSING DEVICE, AND PROGRAM
(FR) DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE CALCUL, PROCÉDÉ DE CALCUL POUR DISPOSITIF DE TRAITEMENT DE CALCUL, ET PROGRAMME
(JA) 演算処理装置、演算処理装置の演算方法及びプログラム
Abrégé :
(EN) The present invention sets unit space information for determining the quality of a molded article. This computation processing device is provided with: a monitoring period setting unit that specifies a monitoring start time and sets a predetermined period from the monitoring start time as a monitoring period; a monitoring timing setting unit that uses a specified number of segments as a basis to set a plurality of instances of monitoring timing within the monitoring period; and a unit space information setting unit that uses obtained measurement item data from a time at which a suitable article was produced as a basis to set unit space information used in monitoring processing of a molded article at the monitoring timing set by the monitoring timing setting unit.
(FR) La présente invention définit des informations d'espace d’unité pour déterminer la qualité d'un article moulé. Ce dispositif de traitement de calcul comprend : une unité de réglage de période de surveillance qui spécifie un temps de début de surveillance et règle une période prédéterminée à partir du temps de début de surveillance en tant que période de surveillance; une unité de réglage de moment de surveillance qui utilise un nombre spécifié de segments en tant que base pour définir une pluralité d'instances de moment de surveillance à l'intérieur de la période de surveillance; et une unité de réglage d'informations d'espace d’unité qui utilise des données d'élément de mesure obtenues à partir d'un moment auquel un article approprié a été produit en tant que base pour définir des informations d'espace d’unité utilisées dans le traitement de surveillance d'un article moulé au moment de surveillance établi par l'unité de réglage de moment de surveillance.
(JA) 成形品の良否判定のための単位空間情報の設定を行う。 本技術における演算処理装置は、監視開始時点を特定し、前記監視開始時点から所定期間を監視期間として設定する監視期間設定部と、指定された分割数に基づいて、前記監視期間内における複数の監視タイミングを設定する監視タイミング設定部と、前記監視タイミング設定部が設定した前記監視タイミングにおいて成形品の監視処理に用いる単位空間情報を、取得した良品製造時の計測項目データに基づいて設定する単位空間情報設定部と、を備える。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)