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1. (WO2019064285) DISPOSITIFS ET SYSTÈMES D'IONISATION HORS-AXE
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N° de publication : WO/2019/064285 N° de la demande internationale : PCT/IB2018/057599
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 29.09.2018
CIB :
H01J 49/10 (2006.01) ,H01J 27/02 (2006.01) ,H01J 49/26 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
10
Sources d'ions; Canons à ions
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
27
Tubes à faisceau ionique
02
Sources d'ions; Canons à ions
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26
Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
Déposants :
PERKINELMER HEALTH SCIENCES CANADA, INC [CA/CA]; 501 Rowntree Dairy Rd Woodbridge, Ontario L4L 8H1, CA
Inventeurs :
GAMBLE, Heather; US
JAVAHERY, Gholamreza; US
COUSINS, Lisa; US
JOLLIFFE, Charles; US
Données relatives à la priorité :
62/565,65829.09.2017US
Titre (EN) OFF-AXIS IONIZATION DEVICES AND SYSTEMS
(FR) DISPOSITIFS ET SYSTÈMES D'IONISATION HORS-AXE
Abrégé :
(EN) An ion source comprising a chamber and an electron collector is described. In one configuration, the chamber comprises a sample inlet and an ion outlet. The chamber may also include an electron inlet configured to receive electrons from an electron source. The electron collector can be arranged in opposition to the electron inlet. The chamber can be configured to direct an electron beam from the electron source along a path with the chamber transverse to a path between the gas inlet and the ion outlet. The chamber may comprise an ion guide that includes a guide axis offset from an axis of the ion outlet.
(FR) L'invention concerne une source d'ions comprenant une chambre et un collecteur d'électrons. Dans une configuration, la chambre comprend une entrée d'échantillons et une sortie d'ions. La chambre peut également comporter une entrée d'électrons conçue pour recevoir des électrons provenant d'une source d'électrons. Le collecteur d'électrons peut être disposé à l'opposé de l'entrée d'électrons. La chambre peut être conçue pour diriger un faisceau d'électrons provenant de la source d'électrons le long d'un trajet, la chambre étant transversale par rapport à un trajet entre l'entrée de gaz et la sortie d'ions. La chambre peut comprendre un guide d'ions qui comporte un axe de guidage décalé par rapport à un axe de la sortie d'ions.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)