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1. (WO2019063663) TEST ET ÉTALONNAGE D'UN AGENCEMENT DE CIRCUIT
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N° de publication : WO/2019/063663 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/076209
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 27.09.2018
CIB :
G01R 19/12 (2006.01) ,G01R 19/252 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19
Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
12
Mesure d'un taux de variation
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
19
Dispositions pour procéder aux mesures de courant ou de tension ou pour en indiquer l'existence ou le signe
25
utilisant une méthode de mesure numérique
252
utilisant des convertisseurs analogiques/numériques du type à conversion de la tension ou du courant en fréquence et mesure de cette fréquence
Déposants :
BOEHRINGER INGELHEIM VETMEDICA GMBH [DE/DE]; Binger Straße 173 55216 Ingelheim am Rhein, DE
Inventeurs :
NIEMEYER, Axel; DE
Mandataire :
VON ROHR PATENTANWÄLTE PARTNERSCHAFT MBB; Rüttenscheider Straße 62 45130 Essen, DE
Données relatives à la priorité :
17020448.129.09.2017EP
Titre (EN) TESTING AND CALIBRATION OF A CIRCUIT ARRANGEMENT
(FR) TEST ET ÉTALONNAGE D'UN AGENCEMENT DE CIRCUIT
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a method and a circuit arrangement for testing and/or calibration, the circuit arrangement comprising a sensor electrode and a first and second circuit unit coupled thereto, the second circuit unit comprising a capacitor, and the sensor electrode being kept at a specified electrical target potential by means of the capacitor and the sensor electrode being coupled such that matching of the electrical potential is made possible, and the second circuit unit being configured such that, if the electrical potential of the capacitor is outside a reference range, said unit detects this event and brings the capacitor to a reference potential, and, for the purpose of testing and/or calibration, a reference current source injecting an adjustable reference current into the sensor electrode, measuring a reference current injected into another circuit unit, and/or injecting a reference current into different portions of the sensor electrode.
(FR) La présente invention concerne un procédé et un agencement de circuit permettant de tester et/ou d'étalonner l'agencement de circuit comprenant une électrode de capteur et une première et une seconde unité de circuit couplées à cette dernière, la seconde unité de circuit comprenant un condensateur, et l'électrode de capteur étant maintenue à un potentiel cible électrique spécifié au moyen du condensateur et l'électrode de capteur étant couplée de telle sorte que la mise en correspondance du potentiel électrique soit rendue possible, et la seconde unité de circuit étant conçue de telle sorte que, si le potentiel électrique du condensateur se trouve à l'extérieur d'une plage de référence, ladite unité détecte cet événement et amène le condensateur à un potentiel de référence et, à des fins de test et/ou d'étalonnage, l'injection par une source de courant de référence d'un courant de référence réglable dans l'électrode de capteur, la mesure d'un courant de référence injecté dans une autre unité de circuit, et/ou l'injection d'un courant de référence dans différentes parties de l'électrode de capteur.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)