Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2019061889) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D’ESSAI AUTOMATISÉ MULTICANAL POUR BANDELETTE À PUCE DE GUIDE D’ONDES OPTIQUE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2019/061889 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/118172
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 25.12.2017
CIB :
G01M 11/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11
Essai des appareils d'optique; Essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
02
Essai des propriétés optiques
Déposants :
武汉光迅科技股份有限公司 ACCELINK TECHNOLOGIES CO., LTD [CN/CN]; 中国湖北省武汉市 江夏区藏龙岛开发区潭湖路1号 1 Tanhu Road, Canglongdao Development Zone, Jiangxia District Wuhan, Hubei 430205, CN
Inventeurs :
赵明璐 ZHAO, Minglu; CN
谭书伟 TAN, Shuwei; CN
李礼 LI, Li; CN
丁丽 DING, Li; CN
马卫东 MA, Weidong; CN
Mandataire :
北京天奇智新知识产权代理有限公司 BEIJING TIAN QI ZHI XIN INTELLECTUAL PROPERTY AGENCY CO., LTD; 中国北京市 海淀区蓟门里小区1幢316室(政法大厦) Room 316 Building 1 (Politics and Law Building), Ji Men Li, Haidian District Beijing, 100088, CN
Données relatives à la priorité :
201710909550.929.09.2017CN
Titre (EN) MULTI-CHANNEL AUTOMATED TESTING DEVICE AND METHOD FOR OPTICAL WAVEGUIDE CHIP STRIP
(FR) DISPOSITIF ET PROCÉDÉ D’ESSAI AUTOMATISÉ MULTICANAL POUR BANDELETTE À PUCE DE GUIDE D’ONDES OPTIQUE
(ZH) 一种多通道光波导芯片条自动测试装置及方法
Abrégé :
(EN) A multi-channel automated testing device for an optical waveguide chip strip. A multi-channel testing system (1) has an input end connected to an automated light source locating system (2) and a first optical path switching system (3) via optical fibers. An output end of the first optical path switching system (3) is connected to an input end of a single-input multi-output beam splitter (5). Output ends of the single-input multi-output beam splitter (5) are connected to input optical fibers of an input-end multi-channel optical fiber array (6). An output-end multi-channel optical fiber array (7) is connected to input ends of a second optical path switching system (4). Output ends of the second optical path switching system (4) are connected to power meters (1-3) of multiple channels of the multi-channel testing system (1) and a fast response detector (PD) (2-2) of the automated light locating system (2), respectively. The present invention reduces complexity of manual operation and improves testing efficiency. In addition, relative consistency of a testing environment is ensured thus preventing additional losses caused by switching an optical path manually. Also provided is a multi-channel automated testing method for an optical waveguide chip strip.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d’essai automatisé multicanal pour une bandelette à puce de guide d’ondes optique. Un système d’essai multicanal (1) comporte une extrémité d’entrée connectée à un système de localisation de source de lumière automatisé (2) et un premier système de commutation de trajet optique (3) par l’intermédiaire de fibres optiques. Une extrémité de sortie du premier système de commutation de trajet optique (3) est connectée à une extrémité d’entrée d’un séparateur de faisceau à entrée unique et sorties multiples (5). Des extrémités de sortie du séparateur de faisceau à entrée unique et sorties multiples (5) sont connectées à des fibres optiques d’entrée d’un réseau de fibre optique multicanal d’extrémité d’entrée (6). Un réseau de fibre optique multicanal d’extrémité de sortie (7) est connecté à des extrémités d’entrée d’un deuxième système de commutation de trajet optique (4). Les extrémités de sortie du deuxième système de commutation de trajet optique (4) sont connectées à des compteurs de puissance (1-3) de canaux multiples du système d’essai multicanal (1) et un détecteur à réponse rapide (PD) (2-2) du système de localisation de lumière automatisé (2), respectivement. La présente invention réduit la complexité de l’opération manuelle et améliore l’efficacité des essais. En outre, la cohérence relative d’un environnement d’essai est assurée, de façon à éviter ainsi des pertes supplémentaires causées par la commutation manuelle d’un trajet optique. L’invention concerne en outre un procédé d’essai automatisé multicanal pour une bandelette à puce de guide d’ondes optique.
(ZH) 一种多通道光波导芯片条自动测试装置,多通道测试系统(1)的输入端和自动找光系统(2)与第一光路切换系统(3)用光纤连接,第一光路切换系统(3)的输出端与一进多出光分束器(5)输入端连接,一进多出光分束器(5)的输出端与输入端多通道光纤阵列(6)的输入光纤连接,输出端多通道光纤阵列(7)与第二光路切换系统(4)的输入端相连,第二光路切换系统(4)的输出端分别和多通道测试系统(1)的多通道功率计(1-3)以及自动找光系统(2)中的快速响应探测器PD(2-2)相连。减少了人工操作的复杂性,提高了测试效率;同时保证了测试环境的相对一致性,避免了人工切换光路带来的额外损耗。还提供一种多通道光波导芯片条自动测试方法。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)