Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2019061364) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DÉFAILLANCE ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2019/061364 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/104644
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 29.09.2017
CIB :
G06F 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
Déposants :
华为技术有限公司 HUAWEI TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 龙岗区坂田华为总部办公楼 Huawei Administration Building, Bantian, Longgang District Shenzhen, Guangdong 518129, CN
Inventeurs :
张瑞荣 ZHANG, Ruirong; CN
姚满海 YAO, Manhai; CN
李翠琴 LI, Cuiqin; CN
石俊杰 SHI, Junjie; CN
Mandataire :
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road,Yuexiu District Guangzhou, Guangdong 510070, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) FAILURE ANALYZING METHOD AND RELATED DEVICE
(FR) PROCÉDÉ D'ANALYSE DE DÉFAILLANCE ET DISPOSITIF ASSOCIÉ
(ZH) 故障分析方法及相关设备
Abrégé :
(EN) Disclosed in an embodiment of the present invention are a failure analyzing method and a related device. The method comprises: a failure detection device acquiring failure description information, wherein the failure description information is used to describe a failure event of a failed device; and the failure detection device traversing a fault tree according to the failure event so as to obtain a failure cause of the failed device, wherein the fault tree indicates a correspondence between the failure event and the failure cause. In the embodiment of the present invention, a fault tree is employed to accurately analyze and locate a failure cause of a failed device, thereby increasing failure detection efficiency, reducing maintenance costs relating to failures, and improving user experience.
(FR) Selon un mode de réalisation, la présente invention concerne un procédé d'analyse de défaillance et un dispositif associé. Le procédé comprend les étapes suivantes : un dispositif de détection de défaillance acquiert des informations de description de défaillance, qui servent à décrire un événement de défaillance d'un dispositif défaillant ; et le dispositif de détection de défaillance traverse un arbre de pannes en fonction de l'événement de défaillance de façon à obtenir une cause de défaillance du dispositif défaillant, cet arbre de pannes indiquant une correspondance entre l'événement de défaillance et la cause de défaillance. Selon le mode de réalisation de l'invention, un arbre de pannes est utilisé pour analyser et localiser avec précision une cause de défaillance d'un dispositif défaillant, ce qui permet de rendre la détection de défaillance plus efficace, de réduire les coûts de maintenance liés aux défaillances, et d'améliorer l'expérience utilisateur.
(ZH) 本发明实施例公开了故障分析方法及相关设备,其中方法包括:故障检测设备获取故障描述信息,其中,所述故障描述信息用于描述故障设备的故障现象;故障检测设备根据所述故障现象遍历故障树,从而获得所述故障设备的故障原因,其中,所述故障树反映了所述故障现象与所述故障原因的对应关系。采用本发明实施例,能够利用故障树准确地分析并定位故障设备的故障原因,提升故障检测效率,降低故障维护成本,提升用户体验。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)