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1. (WO2019061055) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST POUR UN DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
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N° de publication : WO/2019/061055 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/103602
Date de publication : 04.04.2019 Date de dépôt international : 27.09.2017
CIB :
H04M 1/24 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
M
COMMUNICATIONS TÉLÉPHONIQUES
1
Équipement de sous-station, p.ex. pour utilisation par l'abonné
24
Dispositions pour les essais
Déposants :
深圳传音通讯有限公司 SHENZHEN TRANSSION COMMUNICATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 南山区粤海街道深圳湾科技生态园9栋B座14层01-07号房 Rooms 01-07, 14/F, Unit B Building No.9 Shenzhen Bay Eco-Technology Park Yuehai Street, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Inventeurs :
王周丹 WANG, Zhoudan; CN
夏相声 XIA, Xiangsheng; CN
王雪蓉 WANG, Xuerong; CN
Mandataire :
上海信好专利代理事务所(普通合伙) SUNSHINEIP INTELLECTUAL PROPERTY LAW FIRM; 中国上海市 浦东新区东方路877号嘉兴大厦2103室张静洁 Jasy ZHANG Room 2103, Jiaxing Building No.877, Dongfang Road, Pudong New Area Shanghai 200122, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) TESTING METHOD AND SYSTEM FOR ELECTRONIC DEVICE
(FR) PROCÉDÉ ET SYSTÈME DE TEST POUR UN DISPOSITIF ÉLECTRONIQUE
(ZH) 电子设备的测试方法及系统
Abrégé :
(EN) A testing method and system for an electronic device. The testing method for an electronic device comprises: starting an analog noise source to provide a noise testing environment (S10); respectively establishing a call between a first electronic device in the noise testing environment and a matching electronic device, and a second electronic device in the noise testing environment and the matching electronic device (S20), wherein the first electronic device has a noise reduction function; respectively providing a testing voice for the first electronic device and the second electronic device (S30); and respectively acquiring, according to the testing voice, testing results of the first electronic device and the second electronic device (S40). The testing method and system for an electronic device do not require expensive testing devices, thereby greatly reducing the testing cost, and same can also acquire analysis results in a timely manner, thereby greatly improving the testing flexibility.
(FR) L'invention concerne un procédé et un système de test pour un dispositif électronique. Le procédé de test pour un dispositif électronique consiste à : démarrer une source de bruit analogique pour fournir un environnement de test de bruit (S10) ; établir respectivement un appel entre un premier dispositif électronique dans l'environnement de test de bruit et un dispositif électronique correspondant, et entre un second dispositif électronique dans l'environnement de test de bruit et le dispositif électronique correspondant (S20), le premier dispositif électronique ayant une fonction de réduction de bruit ; fournir respectivement une voix de test pour le premier dispositif électronique et le second dispositif électronique (S30) ; et acquérir respectivement, en fonction de la voix de test, les résultats de test du premier dispositif électronique et du second dispositif électronique (S40). Le procédé et le système de test pour un dispositif électronique ne nécessitent pas de dispositifs de test coûteux, ce qui réduit considérablement le coût du test, et ils peuvent également acquérir des résultats d'analyse de manière opportune, ce qui améliore ainsi considérablement la flexibilité du test.
(ZH) 一种电子设备的测试方法及系统,电子设备的测试方法包括:启动模拟噪音源以提供噪音测试环境(S10);分别将处于噪音测试环境中的第一电子设备、第二电子设备与配合电子设备建立通话(S20),其中第一电子设备具有降噪功能;分别对第一电子设备和第二电子设备提供测试语音(S30);根据测试语音,分别获取第一电子设备和第二电子设备的测试结果(S40)。电子设备的测试方法及系统不需要高昂的测试设备,大大降低了测试成本,并且还可以及时的获取分析结果,大大提高了测试的灵活性。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)