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1. (WO2019050505) MODÉLISATION DE MONTE CARLO D'ÉTALONNEURS DE CHAMP DE COUVERTURE DE THORIUM
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N° de publication : WO/2019/050505 N° de la demande internationale : PCT/US2017/050125
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 05.09.2017
CIB :
G01T 7/00 (2006.01) ,G01T 1/167 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
7
Détails des instruments de mesure des radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
1
Mesure des rayons X, des rayons gamma, des radiations corpusculaires ou des radiations cosmiques
16
Mesure de l'intensité de radiation
167
Mesure du contenu radioactif des objets, p.ex. contamination
Déposants :
HALLIBURTON ENERGY SERVICES, INC. [US/US]; 3000 N. Sam Houston Parkway E. Houston, Texas 77032, US
Inventeurs :
GALFORD, James E.; US
Mandataire :
RAJ, Vinu; US
TIDWELL, Mark; US
BORLAND, Harold; US
LAYE, Jade O.; US
PITTMAN, David; US
BROWN, Randall C.; US
EDWARDS, Gary; US
HERDA, Alan; US
SUAREZ, Vera; US
HALBUR, Zachary; US
TU, Evert Uy; US
PAPE, Eileen; US
HARDAWAY, Kevin L.; US
DEMARCO, John; US
MENEZES, Clive; US
BRYSON, Alan C; US
FITE, Benjamin; US
RODDY, Craig; US
WUSTENBERG, John; US
RICHARDSON, Scott; US
KRUEGER, Tenley; US
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) MONTE CARLO MODELING OF THORIUM BLANKET FIELD CALIBRATORS
(FR) MODÉLISATION DE MONTE CARLO D'ÉTALONNEURS DE CHAMP DE COUVERTURE DE THORIUM
Abrégé :
(EN) System and methods for calibrating gamma ray tools using blanket field calibrator models is provided. A counting rate of a first gamma ray tool is simulated based on a model of a first blanket calibrator. When it is determined that the simulated counting rate matches a measured counting rate associated with the first gamma ray tool, a tally multiplier and a corresponding material specification for the model of the first blanket calibrator is determined. A counting rate for a second gamma ray tool is simulated based on the tally multiplier and the material specification determined for the model of the first blanket calibrator. A sensitivity factor for the second gamma ray tool is determined based on the simulation. The second gamma ray tool is calibrated according to a nominal blanket activity calculated from the sensitivity factor of the second gamma ray tool.
(FR) L'invention concerne un système et des procédés permettant d'étalonner des outils à rayons gamma à l'aide de modèles d'étalonneur de champ de couverture. Un taux de comptage d'un premier outil à rayons gamma est simulé d'après un modèle d'un premier étalonneur de couverture. Lorsqu'il est déterminé que le taux de comptage simulé concorde avec un taux de comptage mesuré associé au premier outil à rayons gamma, un multiplicateur de marque et une spécification de matériau correspondante pour le modèle du premier étalonneur de couverture sont déterminés. Un taux de comptage pour un second outil à rayons gamma est simulé d'après le multiplicateur de comptage et la spécification de matériau déterminés pour le modèle du premier étalonneur de couverture. Un facteur de sensibilité pour le second outil à rayons gamma est déterminé en fonction de la simulation. Le second outil à rayons gamma est étalonné selon une activité de couverture nominale calculée à partir du facteur de sensibilité du second outil à rayons gamma.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : Anglais (EN)
Langue de dépôt : Anglais (EN)