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1. (WO2019049669) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE FABRICATION
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N° de publication : WO/2019/049669 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/031038
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 22.08.2018
CIB :
G05B 19/418 (2006.01) ,G06Q 50/04 (2012.01)
G PHYSIQUE
05
COMMANDE; RÉGULATION
B
SYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU D'ESSAIS DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19
Systèmes de commande à programme
02
électriques
418
Commande totale d'usine, c.à d. commande centralisée de plusieurs machines, p.ex. commande numérique directe ou distribuée (DNC), systèmes d'ateliers flexibles (FMS), systèmes de fabrication intégrés (IMS), productique (CIM)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
Q
SYSTÈMES OU MÉTHODES DE TRAITEMENT DE DONNÉES, SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION; SYSTÈMES OU MÉTHODES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION, NON PRÉVUS AILLEURS
50
Systèmes ou procédés spécialement adaptés à un secteur particulier d'activité économique, p.ex. services d'utilité publique ou tourisme
04
Fabrication
Déposants :
株式会社KMC KNOWLEDGE MANUFACTURING COMPANY [JP/JP]; 神奈川県川崎市高津区坂戸3-2-1 KSP東棟606 KSP east place 606, 3-2-1 Sakado, Takatsu-ku, Kawasaki-shi, Kanagawa 2130012, JP
Inventeurs :
安部 新一 ABE, Shinichi; JP
佐藤 声喜 SATO, Seiki; JP
Mandataire :
大森 純一 OMORI, Junichi; JP
Données relatives à la priorité :
2017-17027605.09.2017JP
Titre (EN) MANUFACTURING MONITORING SYSTEM AND MANUFACTURING MONITORING METHOD
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE DE FABRICATION
(JA) 生産監視システム及び生産監視方法
Abrégé :
(EN) For the purpose of reliably preventing a defective product from proceeding to a subsequent process, finding the cause of the defect of the defective product, and predicting and preventing the occurrence of the defect, this manufacturing monitoring system 10 is provided with: a first data acquisition unit 15a for acquiring, from a machine tool 11, a plurality of types of monitoring data for each product processed by the machine tool 11; a first evaluation unit 15b for evaluating, on the basis of threshold values of each of the monitoring data, each of the acquired monitoring data for each of the products; an extraction device 14 for classifying the products processed by the machine tool 11 on the basis of the result of the evaluation performed by the first evaluation unit 15b for each of the products; and a computer system 12 for, when the extraction device 14 has classified the products associated with the monitoring data outside the range of the threshold values separately from other products, carrying out a prescribed notification and displaying the monitoring data outside the range of the threshold values in an accentuated manner.
(FR) L'invention a pour objectif d'empêcher de manière fiable un produit défectueux d'être transféré à un processus ultérieur, de trouver la cause du défaut du produit défectueux et de prévoir et empêcher l'apparition du défaut et réalise à cet effet un système de surveillance de fabrication (10) qui comprend : une première unité d'acquisition de données (15a) destinée à acquérir, auprès d'une machine-outil (11), une pluralité de types de données de surveillance pour chaque produit traité par la machine-outil (11) ; une première unité d'évaluation (15b) destinée à évaluer, sur la base de valeurs de seuil de chacune des données de surveillance, chacune des données de surveillance acquises pour chacun des produits ; un dispositif d'extraction (14) destiné à classifier les produits traités par la machine-outil (11) sur la base du résultat de l'évaluation effectuée par la première unité d'évaluation (15b) pour chacun des produits ; et un système informatique (12) destiné à, lorsque le dispositif d'extraction (14) a classé les produits associés aux données de surveillance à l'extérieur de la plage des valeurs de seuil séparément d'autres produits, effectuer une notification prescrite et afficher les données de surveillance à l'extérieur de la plage des valeurs de seuil d'une manière accentuée.
(JA) 不良品が次工程に流れることを確実に防止でき、不良品の不良原因を究明でき、かつ、不良発生を予知・予防できるよう、生産監視システム10は、加工機11から複数種類の監視データを加工機11が加工した一製品ごとに取得する第1のデータ取得部15aと、監視データのそれぞれのしきい値に基づき、取得されたそれぞれの監視データを一製品ごとに評価する第1の評価部15bと、第1の評価部15bによる一製品ごとの評価結果に基づき加工機11により加工された製品を分別する取り出し機14と、取り出し機14がしきい値の範囲外となった監視データに対応する製品を他の製品から分別したとき、所定の報知を行い、かつ、しきい値の範囲外となった監視データを特徴付けて表示するコンピュータシステム12とを具備する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)