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1. (WO2019049442) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULES, DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS
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N° de publication : WO/2019/049442 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/020966
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 31.05.2018
CIB :
G01N 21/64 (2006.01) ,G01N 15/14 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
62
Systèmes dans lesquels le matériau analysé est excité de façon à ce qu'il émette de la lumière ou qu'il produise un changement de la longueur d'onde de la lumière incidente
63
excité optiquement
64
Fluorescence; Phosphorescence
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
10
Recherche de particules individuelles
14
Recherche par des moyens électro-optiques
Déposants :
ソニー株式会社 SONY CORPORATION [JP/JP]; 東京都港区港南1丁目7番1号 1-7-1 Konan, Minato-ku, Tokyo 1080075, JP
Inventeurs :
梅津 友行 UMETSU Tomoyuki; JP
原 雅明 HARA Masaaki; JP
林 信裕 HAYASHI Nobuhiro; JP
加藤 泰信 KATO Yasunobu; JP
Mandataire :
渡邊 薫 WATANABE Kaoru; JP
Données relatives à la priorité :
2017-17290408.09.2017JP
Titre (EN) MICROPARTICLE MEASUREMENT DEVICE, INFORMATION PROCESSING DEVICE, AND INFORMATION PROCESSING METHOD
(FR) DISPOSITIF DE MESURE DE MICROPARTICULES, DISPOSITIF DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS ET PROCÉDÉ DE TRAITEMENT D'INFORMATIONS
(JA) 微小粒子測定装置、情報処理装置および情報処理方法
Abrégé :
(EN) Provided is a microparticle measurement device having reduced noise and improved spectral separation performance. A spectral-type microparticle measurement device according to the present art comprises: a detection unit having a plurality of detectors for detecting light from microparticles; a multiplication factor setting unit for setting a multiplication factor for each of the plurality of detectors; a correction coefficient calculation unit for calculating a correction coefficient on the basis of the set multiplication factors; and a spectrum generation unit for generating spectral data by correcting, with the calculated correction coefficient, values detected by the detectors.
(FR) La présente invention concerne un dispositif de mesure de microparticules présentant un bruit réduit et des performances de séparation spectrale améliorées. Un dispositif de mesure de microparticules de type spectral selon la présente invention comprend : une unité de détection ayant une pluralité de détecteurs pour détecter la lumière provenant de microparticules; une unité de réglage de facteur de multiplication pour régler un facteur de multiplication pour chacun parmi la pluralité de détecteurs; une unité de calcul de coefficient de correction pour calculer un coefficient de correction sur la base des facteurs de multiplication définis; et une unité de génération de spectre pour générer des données spectrales par correction, avec le coefficient de correction calculé, des valeurs détectées par les détecteurs.
(JA) ノイズを低減してスペクトル分離性能を向上させた微小粒子測定装置を提供すること。 本技術に係るスペクトル型の微小粒子測定装置は、微小粒子からの光を検出する複数の検出器を有する検出部と、複数の検出器ごとの増倍率を設定する増倍率設定部と、設定された増倍率に基づいて補正係数を算出する補正係数算出部と、検出器により検出された値を、算出された補正係数で補正してスペクトルデータを生成するスペクトル生成部と、を備える。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)