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1. (WO2019049318) MACHINE DE TRAVAIL DE SUBSTRAT
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N° de publication : WO/2019/049318 N° de la demande internationale : PCT/JP2017/032500
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 08.09.2017
CIB :
H05K 13/04 (2006.01) ,H05K 13/08 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
05
TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
K
CIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
13
Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication ou l'ajustage d'ensembles de composants électriques
04
Montage de composants
H ÉLECTRICITÉ
05
TECHNIQUES ÉLECTRIQUES NON PRÉVUES AILLEURS
K
CIRCUITS IMPRIMÉS; ENVELOPPES OU DÉTAILS DE RÉALISATION D'APPAREILS ÉLECTRIQUES; FABRICATION D'ENSEMBLES DE COMPOSANTS ÉLECTRIQUES
13
Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication ou l'ajustage d'ensembles de composants électriques
08
Contrôle de la fabrication des ensembles
Déposants :
株式会社FUJI FUJI CORPORATION [JP/JP]; 愛知県知立市山町茶碓山19番地 19, Chausuyama, Yamamachi, Chiryu-shi, Aichi 4728686, JP
Inventeurs :
谷澤 由治 TANIZAWA Yoshiharu; JP
Mandataire :
小林 脩 KOBAYASHI Osamu; JP
山本 喜一 YAMAMOTO Yoshikazu; JP
木村 群司 KIMURA Gunji; JP
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SUBSTRATE WORK MACHINE
(FR) MACHINE DE TRAVAIL DE SUBSTRAT
(JA) 対基板作業機
Abrégé :
(EN) This substrate work machine comprises: a data holding unit for holding component data that is used for substrate work and includes shape data regarding the shape of an electronic component to be fitted to the substrate, the component data including a reference value and tolerance; a data determining unit for determining whether a differential between measured data acquired by observing the electronic component during the substrate work and the reference value in the component data is within the range of the tolerance; a quality information acquiring unit for acquiring, in a case where the differential is not within the range of tolerance, work quality information regarding the operation status of second substrate work by a second substrate work machine of a different type that is disposed upstream or downstream of the substrate work machine; and a data correcting unit for correcting the reference value and/or the tolerance in accordance with the work quality information.
(FR) La présente invention concerne une machine de travail de substrat qui comprend : une unité de conservation de données permettant de conserver des données de composant qui sont utilisées pour un travail de substrat et qui comprend des données de forme concernant la forme d'un composant électronique à monter sur le substrat, les données de composant comprenant une valeur de référence et une tolérance ; une unité de détermination de données permettant de déterminer si un différentiel entre des données mesurées acquises par l'observation du composant électronique pendant le travail du substrat et la valeur de référence dans les données de composant se trouvent dans la plage de la tolérance ; une unité d'acquisition d'informations de qualité permettant d'acquérir, dans un cas où le différentiel ne se trouve pas dans la plage de tolérance, des informations de qualité de travail concernant l'état de fonctionnement d'un second travail de substrat par une seconde machine de travail de substrat d'un type différent qui est disposée en amont ou en aval de la machine de travail de substrat ; et une unité de correction de données permettant de corriger la valeur de référence et/ou la tolérance en fonction des informations de qualité de travail.
(JA) 対基板作業機は、基板に装着される電子部品の形状に関する形状データを含みかつ対基板作業に用いられる部品データであって、基準値および許容差を含む部品データを保持するデータ保持部と、対基板作業の中で電子部品を観測して取得した実測データと、部品データの基準値との差分が許容差の範囲内に収まっているか否かを判定するデータ判定部と、差分が許容差の範囲内に収まっていない場合に、対基板作業機の上流側または下流側に配置された別種の第二対基板作業機の第二対基板作業の実施状況に関する作業品質情報を取得する品質情報取得部と、作業品質情報に応じて基準値および許容差の少なくとも一方を補正するデータ補正部と、を備える。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)