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1. (WO2019048727) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
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N° de publication : WO/2019/048727 N° de la demande internationale : PCT/FI2017/050628
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 06.09.2017
CIB :
G01N 27/07 (2006.01) ,G01N 27/22 (2006.01) ,G01N 33/28 (2006.01) ,G01R 27/26 (2006.01) ,G01R 27/22 (2006.01) ,G01N 33/02 (2006.01) ,G01N 33/34 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
02
en recherchant l'impédance
04
en recherchant la résistance
06
d'un liquide
07
Structure des récipients de mesure; Electrodes pour ces récipients
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
27
Recherche ou analyse des matériaux par l'emploi de moyens électriques, électrochimiques ou magnétiques
02
en recherchant l'impédance
22
en recherchant la capacité
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
26
Huiles; liquides visqueux; peintures; encres
28
Huiles
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
27
Dispositions pour procéder aux mesures de résistance, de réactance, d'impédance, ou de caractéristiques électriques qui en dérivent
02
Mesure de résistances, de réactances, d'impédances réelles ou complexes, ou autres caractéristiques bipolaires qui en dérivent, p.ex. constante de temps
26
Mesure de l'inductance ou de la capacitance; Mesure du facteur de qualité, p.ex. en utilisant la méthode par résonance; Mesure de facteur de pertes; Mesure des constantes diélectriques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
27
Dispositions pour procéder aux mesures de résistance, de réactance, d'impédance, ou de caractéristiques électriques qui en dérivent
02
Mesure de résistances, de réactances, d'impédances réelles ou complexes, ou autres caractéristiques bipolaires qui en dérivent, p.ex. constante de temps
22
Mesure de la résistance de fluides
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
02
Nourriture
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
34
Papier
Déposants :
ROCSOLE LTD [FI/FI]; Kauppakatu 20 70100 Kuopio, FI
Inventeurs :
LAAKKONEN, Pasi; FI
LEHIKOINEN, Anssi; FI
MONONEN, Mika; FI
VOUTILAINEN, Arto; FI
Mandataire :
PAPULA OY; P.O. Box 981 00101 Helsinki, FI
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) ELECTRICAL TOMOGRAPHY FOR VERTICAL PROFILING
(FR) TOMOGRAPHIE ÉLECTRIQUE DE PROFILAGE VERTICAL
Abrégé :
(EN) An apparatus (600) for determining, by electrical tomography, vertical profile of an electrical property of interest of material(s) in a target volume (618) comprises a measurement probe (610) to be positioned at a plurality of different measurement levels (650) in a target volume and comprising a plurality of measurement elements (111) each having an interface surface (112). Each interface surface has a size, shape, and rotational position. A measurement path (114) is formed between two interface surfaces as dependent on the sizes, shapes, and rotational positions of the two interface surfaces, and the distance between the two interface surfaces. The locations, rotational positions, shapes, and sizes of the interface surfaces are selected to provide at least two different measurement paths differing from each other in one or more of said sizes of, shapes of, rotational positions of, and distances between the associated interface surfaces.
(FR) L'invention concerne un appareil (600) permettant de déterminer, par tomographie électrique, un profil vertical d'une propriété électrique d'intérêt d'un ou plusieurs matériaux dans un volume cible (618) comprenant une sonde de mesure (610) à positionner à une pluralité de niveaux de mesure différents (650) dans un volume cible et comprenant une pluralité d'éléments de mesure (111) possédant chacun une surface d'interface (112). Chaque surface d'interface présente une dimension, une forme et une position de rotation. Un trajet de mesure (114) est formé entre deux surfaces d'interface en fonction des dimensions, des formes et des positions de rotation des deux surfaces d'interface et de la distance entre les deux surfaces d'interface. Les emplacements, les positions de rotation, les formes et les dimensions des surfaces d'interface sont sélectionnés afin de fournir au moins deux trajets de mesure différents différant l'un de l'autre par rapport auxdites tailles, formes, positions de rotation et/ou distances entre les surfaces d'interface associées.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)