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1. (WO2019048442) ANALYSE AUTOMATIQUE D'EXPOSITION LIÉE À UNE MATIÈRE ET/OU PRIORISATION DE STRATÉGIES D'EXPOSITION
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N° de publication : WO/2019/048442 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/073791
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 05.09.2018
CIB :
G06Q 10/06 (2012.01) ,G06Q 10/08 (2012.01)
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
Q
SYSTÈMES OU MÉTHODES DE TRAITEMENT DE DONNÉES, SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION; SYSTÈMES OU MÉTHODES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION, NON PRÉVUS AILLEURS
10
Administration; Gestion
06
Ressources, gestion de tâches, gestion d'hommes ou de projets, p.ex. organisation, planification, ordonnancement ou affectation de ressources en temps, hommes ou machines; Planification dans l'entreprise; Modèles organisationnels
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
Q
SYSTÈMES OU MÉTHODES DE TRAITEMENT DE DONNÉES, SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION; SYSTÈMES OU MÉTHODES SPÉCIALEMENT ADAPTÉS À DES FINS ADMINISTRATIVES, COMMERCIALES, FINANCIÈRES, DE GESTION, DE SURVEILLANCE OU DE PRÉVISION, NON PRÉVUS AILLEURS
10
Administration; Gestion
08
Logistique, p.ex. entreposage, chargement, distribution ou expédition; Gestion d'inventaire ou de stocks, p.ex. exécution d'une commande, approvisionnement ou régularisation par rapport aux commandes
Déposants :
SARTORIUS STEDIM BIOTECH GMBH [DE/DE]; August-Spindler-Str. 11 37079 Göttingen, DE
Inventeurs :
HACKEL, Heiko; DE
ADAMS, Dean; DE
Mandataire :
MÜLLER-BORÉ & PARTNER PATENTANWÄLTE PARTG MBB; Friedenheimer Brücke 21 80639 München, DE
Données relatives à la priorité :
15/697,21306.09.2017US
Titre (EN) AUTOMATIC ANALYSIS OF MATERIAL-RELATED EXPOSURE AND/OR EXPOSURE STRATEGY PRIORITIZATION
(FR) ANALYSE AUTOMATIQUE D'EXPOSITION LIÉE À UNE MATIÈRE ET/OU PRIORISATION DE STRATÉGIES D'EXPOSITION
Abrégé :
(EN) A device may receive data related to a material. The data may permit an analysis of an exposure related to the material. The data may be received from another device. The device may process the data to determine a category of materials for the material. The category of materials may indicate a set of exposures, related to the material, to an organization. The device may process the data to determine an exposure preparedness level associated with the material. The exposure preparedness level may indicate a preparedness of the organization to handle the set of exposures related to the material. The device may determine a score for the material based on the category of materials and the exposure preparedness level associated with the material. The score may indicate the exposure related to the material. The device may perform an action related to the material based on the score for the material.
(FR) Un dispositif peut recevoir des données liées à une matière. Les données peuvent permettre une analyse d'une exposition liée à la matière. Les données peuvent être reçues en provenance d'un autre dispositif. Le dispositif peut traiter les données pour déterminer une catégorie de matières pour la matière. La catégorie de matières peut indiquer à une organisation un ensemble d'expositions, liées à la matière. Le dispositif peut traiter les données pour déterminer un niveau de préparation d'exposition associé à la matière. Le niveau de préparation d'exposition peut indiquer une préparation de l'organisation à gérer l'ensemble d'expositions liées à la matière. Le dispositif peut déterminer un score relatif à la matière d'après la catégorie de matières et le niveau de préparation d'exposition associés à la matière. Le score peut indiquer l'exposition liée à la matière. Le dispositif peut effectuer une action liée à la matière d'après le score relatif à la matière.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)