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1. (WO2019048299) ÉLÉMENT D’INTERFACE POUR APPAREIL D’ESSAI DE DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES ET PROCÉDÉ DE FABRICATION CORRESPONDANT
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N° de publication : WO/2019/048299 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/073187
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 29.08.2018
CIB :
G01R 1/073 (2006.01) ,G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 3/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
073
Sondes multiples
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
3
Appareils ou procédés spécialement adaptés à la fabrication des appareils de mesure
Déposants :
TECHNOPROBE S.P.A. [IT/IT]; Via Cavalieri di Vittorio Veneto, 2 23870 Cernusco Lombardone (Lecco), IT
Inventeurs :
CRIPPA, Roberto; IT
VETTORI, Riccardo; IT
Mandataire :
FERRARI, Barbara; IT
Données relatives à la priorité :
10201700010052207.09.2017IT
Titre (EN) INTERFACE ELEMENT FOR A TESTING APPARATUS OF ELECTRONIC DEVICES AND CORRESPONDING MANUFACTURING METHOD
(FR) ÉLÉMENT D’INTERFACE POUR APPAREIL D’ESSAI DE DISPOSITIFS ÉLECTRONIQUES ET PROCÉDÉ DE FABRICATION CORRESPONDANT
Abrégé :
(EN) An interface element (20) for a testing apparatus of electronic devices comprises at least one support (21) provided with a plurality of through-openings (22) that house respective interconnections elements (23), which extend between a first end(23a) and a second end (23b). Suitably, the interconnections elements (23) are made of a conductive elastomer that fills the openings (22) of the support (21), each of said interconnection elements (23) forming a conductive channel between different and opposing faces(Fa, Fb) of said support (21).
(FR) La présente invention concerne un élément d’interface (20) pour un appareil d’essai de dispositifs électroniques qui comprend au moins un support (21) pourvu d’une pluralité d’ouvertures traversantes (22) qui contiennent des éléments d’interconnexion respectifs (23), qui s’étendent entre une première extrémité (23a) et une deuxième extrémité (23b). De manière appropriée, les éléments d’interconnexion (23) sont constitués d’un élastomère conducteur qui remplit les ouvertures (22) du support (21), chacun desdits éléments d’interconnexion (23) formant un canal conducteur entre différentes faces opposées (Fa, Fb) dudit support (21).
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)