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1. (WO2019048252) RÉSEAU DE DIFFRACTION POUR IMAGERIE À RAYONS X EN CONTRASTE DE PHASE ET/OU SUR FOND NOIR
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N° de publication : WO/2019/048252 N° de la demande internationale : PCT/EP2018/072833
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 24.08.2018
CIB :
G01N 23/20 (2018.01) ,A61B 6/00 (2006.01) ,G01J 3/18 (2006.01) ,G01N 23/04 (2018.01) ,G01N 23/20008 (2018.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
20
en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
A NÉCESSITÉS COURANTES DE LA VIE
61
SCIENCES MÉDICALE OU VÉTÉRINAIRE; HYGIÈNE
B
DIAGNOSTIC; CHIRURGIE; IDENTIFICATION
6
Appareils pour diagnostic par radiations, p.ex. combinés avec un équipement de thérapie par radiations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
J
MESURE DE L'INTENSITÉ, DE LA VITESSE, DU SPECTRE, DE LA POLARISATION, DE LA PHASE OU DES CARACTÉRISTIQUES D'IMPULSIONS DE LUMIÈRE INFRAROUGE, VISIBLE OU ULTRAVIOLETTE; COLORIMÉTRIE; PYROMÉTRIE DES RADIATIONS
3
Spectrométrie; Spectrophotométrie; Monochromateurs; Mesure de la couleur
12
Production du spectre; Monochromateurs
18
en utilisant des éléments diffractants, p.ex. réseaux
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
02
en transmettant la radiation à travers le matériau
04
et formant une image
[IPC code unknown for ERROR Code IPC incorrect: sous-groupe non valide (0=>999999)!]
Déposants :
KONINKLIJKE PHILIPS N.V. [NL/NL]; High Tech Campus 5 5656 AE Eindhoven, NL
Inventeurs :
KOEHLER, Thomas; NL
Mandataire :
VERSTEEG, Dennis John; NL
DE HAAN, Poul, Erik; NL
Données relatives à la priorité :
17189540.206.09.2017EP
Titre (EN) DIFFRACTION GRATING FOR X-RAY PHASE CONTRAST AND/OR DARK-FIELD IMAGING
(FR) RÉSEAU DE DIFFRACTION POUR IMAGERIE À RAYONS X EN CONTRASTE DE PHASE ET/OU SUR FOND NOIR
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a grating for X-ray phase contrast and/or dark-field imaging. It is described to form a photo-resist layer on a surface of a substrate. The photo-resist layer is illuminated with radiation using a mask representing a desired grating structure. The photo-resist layer is etched to remove parts of the photo-resist layer, to leave a plurality of trenches that are laterally spaced from one across the surface of the substrate. A plurality of material layers are formed on the surface of the substrate. Each layer is formed in a trench. A material layer comprises a plurality of materials, wherein the plurality of materials are formed one on top of the other in a direction perpendicular to the surface of the substrate. The plurality of materials comprises at least one material that has a k-edge absorption energy that is higher than the k-edge absorption energy of Gold and the plurality of materials comprises Gold.
(FR) La présente invention concerne un réseau de diffraction pour imagerie à rayons X en contraste de phase et/ou sur fond noir. L'invention décrit la formation d'une couche de résine photosensible sur une surface d'un substrat. La couche de résine photosensible est éclairée par un rayonnement en utilisant un masque qui représente une structure de réseau souhaitée. La couche de résine photosensible est gravée pour éliminer des parties de la couche de résine photosensible, afin de laisser une pluralité de tranchées qui sont espacées latéralement les unes des autres à travers la surface du substrat. Une pluralité de couches de matériau sont formées sur la surface du substrat. Chaque couche est formée dans une tranchée. Une couche de matériau comprend une pluralité de matériaux, la pluralité de matériaux étant formés les uns au-dessus des autres dans une direction perpendiculaire à la surface du substrat. La pluralité de matériaux comprend au moins un matériau qui présente une énergie d'absorption de bord k qui est supérieure à l'énergie d'absorption de bord k de l'or et la pluralité de matériaux comprend de l'or.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)