Certains contenus de cette application ne sont pas disponibles pour le moment.
Si cette situation persiste, veuillez nous contacter àObservations et contact
1. (WO2019047114) PROCÉDÉ DE DÉBOGAGE DE COURBES GAMMA D'ÉCRANS À CRISTAUX LIQUIDES ET SYSTÈME DE DÉBOGAGE
Dernières données bibliographiques dont dispose le Bureau international    Formuler une observation

N° de publication : WO/2019/047114 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/100937
Date de publication : 14.03.2019 Date de dépôt international : 07.09.2017
CIB :
G09G 3/36 (2006.01)
G PHYSIQUE
09
ENSEIGNEMENT; CRYPTOGRAPHIE; PRÉSENTATION; PUBLICITÉ; SCEAUX
G
DISPOSITIONS OU CIRCUITS POUR LA COMMANDE DE L'AFFICHAGE UTILISANT DES MOYENS STATIQUES POUR PRÉSENTER UNE INFORMATION VARIABLE
3
Dispositions ou circuits de commande présentant un intérêt uniquement pour l'affichage utilisant des moyens de visualisation autres que les tubes à rayons cathodiques
20
pour la présentation d'un ensemble de plusieurs caractères, p.ex. d'une page, en composant l'ensemble par combinaison d'éléments individuels disposés en matrice
34
en commandant la lumière provenant d'une source indépendante
36
utilisant des cristaux liquides
Déposants :
深圳传音通讯有限公司 SHENZHEN TRANSSION COMMUNICATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 南山区粤海街道深圳湾科技生态园9栋B座14层01-07号房 Rooms 01-07, 14/F, Unit B Building No. 9 Shenzhen Bay Eco-Technology Park Yuehai Street, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Inventeurs :
叶智军 YE, Zhijun; CN
Mandataire :
北京大成律师事务所 BEIJING DACHENG LAW OFFICES, LLP.; 中国上海市 浦东新区银城中路501号上海中心15/16层 15th/16th Floor, Shanghai Tower 501 Yincheng Road (M), Pudong New Area Shanghai 200120, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) LIQUID CRYSTAL DISPLAY GAMMA CURVE DEBUGGING METHOD AND DEBUGGING SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ DE DÉBOGAGE DE COURBES GAMMA D'ÉCRANS À CRISTAUX LIQUIDES ET SYSTÈME DE DÉBOGAGE
(ZH) 一种液晶显示伽马曲线调试方法及调试系统
Abrégé :
(EN) Provided are a liquid crystal display gamma curve debugging method and a debugging system (100). Actual response Gamma curves of all samples are tested at one time; a mathematical tool is applied to perform regression analysis on the actual response Gamma curves so as to obtain an optimal Gamma curve; a standard sample is selected for the optimal Gamma curve, and the actual response Gamma curve of the standard sample is adjusted to an exponential curve of 2.2±0.2, thereby obtaining an optimal parameter. By using the debugging method and the debugging system (100), the debugging efficiency is high, and the debugging workload is small; and by using the mathematical tool for sample analysis, the final debugged parameters are optimal parameters. The coverage of the sample to the population is higher.
(FR) L'invention concerne un procédé de débogage de courbes gamma d'écrans à cristaux liquides et un système de débogage (100). Des courbes gamma de réponse réelle de tous les échantillons sont testées à un moment ; un outil mathématique est appliqué pour effectuer une analyse de régression sur les courbes gamma de réponse réelle de façon à obtenir une courbe gamma optimale ; un échantillon standard est sélectionné pour la courbe gamma optimale, et la courbe gamma de réponse réelle de l'échantillon standard est ajustée à une courbe exponentielle de 2,2 ± 0,2, ce qui permet d'obtenir un paramètre optimal. Par utilisation du procédé de débogage et du système de débogage (100), l'efficacité de débogage est élevée, et la charge de travail de débogage est faible ; et par utilisation de l'outil mathématique pour une analyse d'échantillons, les paramètres débogués finaux sont des paramètres optimaux. La couverture de l'échantillon auprès de la population est plus élevée.
(ZH) 一种液晶显示伽马曲线调试方法及调试系统(100),一次性将所有样本的实际响应Gamma曲线测试出来,运用数学工具对这些实际响应Gamma曲线进行回归分析,得出一最优Gamma曲线,针对该最优Gamma曲线挑选出标准样本,将该标准样本的实际响应Gamma曲线调整至2.2±0.2的指数曲线,从而获得一最优参数。利用该调试方法及调试系统(100),调试效率高,调试工作量小;使用数学工具进行样本分析,最终调试出的参数为最优参数;而且样品对整体的覆盖率较高。
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)