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1. (WO2019046130) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES POUR L'ÉTALONNAGE DE DÉTECTEURS DE PARTICULES
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N° de publication : WO/2019/046130 N° de la demande internationale : PCT/US2018/048003
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 24.08.2018
CIB :
G01T 7/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
T
MESURE DES RADIATIONS NUCLÉAIRES OU DES RAYONS X
7
Détails des instruments de mesure des radiations
Déposants :
LAWRENCE LIVERMORE NATIONAL SECURITY, LLC [US/US]; 2300 First Street, Suite 203 Livermore, CA 94550, US
Inventeurs :
WURTZ, Ronald, E.; US
LENNOX, Kristin; US
Mandataire :
TEHRANCHI, Babak; US
BISHOP, Stephen; US
BECKER, Jordan, M.; US
AI, Bing; US
BETCHER, Susan, D.; US
Données relatives à la priorité :
15/693,37331.08.2017US
Titre (EN) METHODS AND SYSTEMS FOR CALIBRATION OF PARTICLE DETECTORS
(FR) PROCÉDÉS ET SYSTÈMES POUR L'ÉTALONNAGE DE DÉTECTEURS DE PARTICULES
Abrégé :
(EN) Techniques for calibration of particle detectors are disclosed. In one aspect, a system for calibrating a particle detector includes a source configured to emit particles including a first and a second type of particles; a first and a second shielding unit configured to be removably positioned in a travel path of the particles and configured to block at least a portion of the first type of particles and to allow the second type of particles to traverse substantially unimpeded therethrough; one or more particle detectors positioned in the travel path of the particles to receive particles after traversing through the first or the second shielding unit and produce electronic pulses in response to the detection of the particles; and a processor coupled to the one or more particle detectors to generate training date and a classifier that allows classification of the first and the second types of particles.
(FR) L'invention concerne des techniques pour l'étalonnage de détecteurs de particules. Selon un aspect, un système pour l'étalonnage d'un détecteur de particules comprend une source conçue pour émettre des particules comprenant un premier et un second type de particules ; des première et seconde unités de blindage conçues pour être positionnées de façon amovible sur le trajet de déplacement des particules et conçues pour bloquer au moins une partie des particules du premier type et pour permettre aux particules du second type de les traverser sensiblement sans entrave ; un ou plusieurs détecteurs de particules positionnés sur le trajet de déplacement des particules afin de recevoir celles-ci après leur traversée de la première ou de la seconde unité de blindage et produire des impulsions électroniques en réponse à la détection des particules ; et un processeur couplé audit ou auxdits détecteurs de particules pour générer une date d'apprentissage et un classificateur qui permet la classification des premier et second types de particules.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)