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1. (WO2019046017) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE POUR UN SYSTÈME DE TEST AUTOMATISÉ
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N° de publication : WO/2019/046017 N° de la demande internationale : PCT/US2018/046740
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 14.08.2018
CIB :
G05B 19/31 (2006.01) ,G05B 19/401 (2006.01) ,G05B 19/402 (2006.01)
G PHYSIQUE
05
COMMANDE; RÉGULATION
B
SYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU D'ESSAIS DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19
Systèmes de commande à programme
02
électriques
18
Commande numérique (CN), c.à d. machines fonctionnant automatiquement, en particulier machines-outils, p.ex. dans un milieu de fabrication industriel, afin d'effectuer un positionnement, un mouvement ou des actions coordonnées au moyen de données d'un programme sous forme numérique
19
caractérisée par systèmes de commande de positionnement ou de commande de contournage, p.ex. pour commander la position à partir d'un point programmé vers un autre point ou pour commander un mouvement le long d'un parcours continu programmé
27
utilisant un dispositif de mesure numérique absolue
31
pour commande continue de parcours
G PHYSIQUE
05
COMMANDE; RÉGULATION
B
SYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU D'ESSAIS DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19
Systèmes de commande à programme
02
électriques
18
Commande numérique (CN), c.à d. machines fonctionnant automatiquement, en particulier machines-outils, p.ex. dans un milieu de fabrication industriel, afin d'effectuer un positionnement, un mouvement ou des actions coordonnées au moyen de données d'un programme sous forme numérique
401
caractérisée par des dispositions de commande pour la mesure, p.ex. étalonnage et initialisation, mesure de la pièce à usiner à des fins d'usinage
G PHYSIQUE
05
COMMANDE; RÉGULATION
B
SYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU D'ESSAIS DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
19
Systèmes de commande à programme
02
électriques
18
Commande numérique (CN), c.à d. machines fonctionnant automatiquement, en particulier machines-outils, p.ex. dans un milieu de fabrication industriel, afin d'effectuer un positionnement, un mouvement ou des actions coordonnées au moyen de données d'un programme sous forme numérique
402
caractérisée par des dispositions de commande pour le positionnement, p.ex. centrage d'un outil par rapport à un trou dans la pièce à usiner, moyens de détection additionnels pour corriger la position
Déposants :
TERADYNE, INC. [US/US]; 600 Riverpark Drive North Reading, Massachusetts 01864, US
Inventeurs :
KHALID, Adnan; US
Mandataire :
PYSHER, Paul, A.; US
ADATO, Ronen; US
AUGST, Alexander D.; US
BUTEAU, Kristen C.; US
BYCHOWSKI, Meaghan E.; US
FORCIER, John V.; US
HAULBROOK, William R.; US
JARRELL, Brenda Herschbach; US
KLEIN, Daniel A.; US
LI, Bin; US
LI, Xiaodong; US
LYON, Charles E.; US
MEDINA, Rolando; US
MONROE, Margo R.; US
PACE, Nicholas J.; US
REARICK, John P.; US
REESE, Brian E.; US
SAHR, Robert N.; US
SCHMITT, Michael; US
SCHONEWALD, Stephanie L.; US
SHAIKH, Nishat A.; US
SHINALL, Michael A.; US
SHORE, David E.; US
SMITH, Maria C.; US
SUH, Su Kyung; US
TSE, Janet M.; US
VETTER, Michael L.; US
VRABLIK, Tracy L.; US
Données relatives à la priorité :
15/688,11228.08.2017US
Titre (EN) CALIBRATION PROCESS FOR AN AUTOMATED TEST SYSTEM
(FR) PROCÉDÉ D'ÉTALONNAGE POUR UN SYSTÈME DE TEST AUTOMATISÉ
Abrégé :
(EN) An example method, such as a calibration method, includes: determining a geometry of an arrangement of cells that is perceived by a robot configured to move devices into, and out of, the cells; determining an expected location of a target cell among the cells; determining an offset from the expected location that is based on the geometry that is perceived by the robot; and calibrating the robot based on the offset.
(FR) Un exemple de procédé de la présente invention, tel qu'un procédé d'étalonnage, comprend : la détermination d'une géométrie d'un agencement de cellules qui est perçue par un robot conçu pour déplacer des dispositifs dans les cellules et et hors de celles-ci ; la détermination d'un emplacement attendu d'une cellule cible parmi les cellules ; la détermination d'un décalage par rapport à l'emplacement attendu qui est basé sur la géométrie qui est perçue par le robot ; et l'étalonnage du robot sur la base du décalage.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)