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1. (WO2019045943) INTERVALLE DE BALAYAGE OPTIMISÉ
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N° de publication : WO/2019/045943 N° de la demande internationale : PCT/US2018/044794
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 01.08.2018
CIB :
G11C 16/26 (2006.01) ,G11C 16/34 (2006.01) ,G06F 11/07 (2006.01)
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
16
Mémoires mortes programmables effaçables
02
programmables électriquement
06
Circuits auxiliaires, p.ex. pour l'écriture dans la mémoire
26
Circuits de détection ou de lecture; Circuits de sortie de données
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
16
Mémoires mortes programmables effaçables
02
programmables électriquement
06
Circuits auxiliaires, p.ex. pour l'écriture dans la mémoire
34
Détermination de l'état de programmation, p.ex. de la tension de seuil, de la surprogrammation ou de la sousprogrammation, de la rétention
G PHYSIQUE
06
CALCUL; COMPTAGE
F
TRAITEMENT ÉLECTRIQUE DE DONNÉES NUMÉRIQUES
11
Détection d'erreurs; Correction d'erreurs; Contrôle de fonctionnement
07
Réaction à l'apparition d'un défaut, p.ex. tolérance de certains défauts
Déposants :
MICRON TECHNOLOGY, INC. [US/US]; 8000 So. Federal Way Boise, Idaho 83716-9632, US
Inventeurs :
MUCHHERLA, Kishore Kumar; US
MALSHE, Ashutosh; US
SINGIDI, Harish Reddy; US
ALSASUA, Gianni Stephen; US
BESINGA, Gary F.; US
RATNAM, Sampath; US
FEELEY, Peter Sean; US
Mandataire :
PERDOK, Monique M.; US
ARORA, Suneel; US
BEEKMAN, Marvin L.; US
BLACK, David W.; US
SCHEER, Bradley W.; US
Données relatives à la priorité :
15/692,40731.08.2017US
Titre (EN) OPTIMIZED SCAN INTERVAL
(FR) INTERVALLE DE BALAYAGE OPTIMISÉ
Abrégé :
(EN) A variety of applications can include apparatus and/or methods of operating the apparatus that include a memory device having read levels that can be calibrated. A calibration controller implemented with the memory device can trigger a read level calibration based on inputs from one or more trackers monitoring parameters associated with the memory device and a determination of an occurrence of at least one event from a set of events related to the monitored parameters. The monitored parameters can include parameters related to a selected time interval and measurements of read, erase, or write operations of the memory device. Additional apparatus, systems, and methods are disclosed.
(FR) L'invention concerne diverses applications qui peuvent comprendre un appareil et/ou des procédés de fonctionnement de l'appareil qui comprennent un dispositif de mémoire présentant des niveaux de lecture qui peuvent être étalonnés. Un dispositif de commande d'étalonnage mis en oeuvre avec le dispositif de mémoire peut déclencher un étalonnage de niveau de lecture sur la base d'entrées provenant d'un ou plusieurs dispositifs de suivi surveillant des paramètres associés au dispositif de mémoire et une détermination d'une occurrence d'au moins un événement à partir d'un ensemble d'événements liés aux paramètres surveillés. Les paramètres surveillés peuvent comprendre des paramètres associés à un intervalle de temps sélectionné et des mesures d'opérations de lecture, d'effacement ou d'écriture du dispositif de mémoire. L'invention concerne en outre un appareil, des systèmes et des procédés supplémentaires.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)