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1. (WO2019045200) DISPOSITIF DE COMMANDE DE LUMIÈRE LASER DE DISPOSITIF DE MESURE LASER
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N° de publication : WO/2019/045200 N° de la demande internationale : PCT/KR2018/000796
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 17.01.2018
CIB :
H01S 5/00 (2006.01) ,G01N 21/39 (2006.01) ,G02B 26/10 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
S
DISPOSITIFS UTILISANT L'ÉMISSION STIMULÉE
5
Lasers à semi-conducteurs
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31
en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
39
en utilisant des lasers à longueur d'onde réglable
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
26
Dispositifs ou systèmes optiques utilisant des éléments optiques mobiles ou déformables pour commander l'intensité, la couleur, la phase, la polarisation ou la direction de la lumière, p.ex. commutation, ouverture de porte, modulation
08
pour commander la direction de la lumière
10
Systèmes de balayage
Déposants :
한국전력공사 KOREA ELECTRIC POWER CORPORATION [KR/KR]; 전라남도 나주시 전력로 55 55, Jeollyeok-ro Naju-si Jeollanam-do 58322, KR
Inventeurs :
박호영 PARK, Ho Young; KR
김현희 KIM, Hyun Hee; KR
임현수 LIM, Hyeon Soo; KR
Mandataire :
특허법인 아주 AJU INTERNATIONAL LAW & PATENT GROUP; 서울시 서초구 사임당로 174, 강남미래타워 12-13층 12-13th Floor, Gangnam Mirae Tower, 174 Saimdang- Ro Seocho-gu Seoul 06627, KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-011087731.08.2017KR
Titre (EN) LASER LIGHT CONTROL DEVICE OF LASER MEASUREMENT DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE COMMANDE DE LUMIÈRE LASER DE DISPOSITIF DE MESURE LASER
(KO) 레이저 계측 장치의 레이저 광 제어 장치
Abrégé :
(EN) Disclosed is a laser light control device of a laser measurement device. The laser light control device of a laser measurement device of the present invention comprises: a tube unit; a first alignment unit movably installed inside the tube unit to align a first lens disposed inside the tube unit; and a second alignment unit movably installed inside the tube unit to align a second lens disposed inside the tube unit.
(FR) Cette invention concerne un dispositif de commande de lumière laser d'un dispositif de mesure laser. Le dispositif de commande de lumière laser d'un dispositif de mesure laser selon l'invention comprend : une unité de tube ; une première unité d'alignement installée de façon mobile à l'intérieur de l'unité de tube pour aligner une première lentille disposée à l'intérieur de l'unité de tube ; et une seconde unité d'alignement installée de façon mobile à l'intérieur de l'unité de tube pour aligner une seconde lentille disposée à l'intérieur de l'unité de tube.
(KO) 레이저 계측 장치의 레이저 광 제어 장치가 개시된다. 본 발명의 레이저 계측 장치의 레이저 광 제어 장치는 관부; 관부 내부에서 이동 가능하게 설치되어 관부 내부의 제1 렌즈를 정렬시키는 제1 정렬부; 및 관부 내부에서 이동 가능하게 설치되어 관부 내부의 제2 렌즈를 정렬시키는 제2 정렬부를 포함하는 것을 특징으로 한다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)