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1. (WO2019045152) SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE INTÉGRÉ TRIDIMENSIONNEL ET PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE INTÉGRÉ TRIDIMENSIONNEL DESTINÉS À UN INSTRUMENT DE MESURE TRIDIMENSIONNEL SANS CONTACT
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N° de publication : WO/2019/045152 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/009619
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 01.09.2017
CIB :
G01B 11/24 (2006.01) ,G01B 9/02 (2006.01) ,G02B 27/10 (2006.01) ,H04N 5/225 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
11
Dispositions pour la mesure caractérisées par l'utilisation de moyens optiques
24
pour mesurer des contours ou des courbes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
B
MESURE DE LA LONGUEUR, DE L'ÉPAISSEUR OU DE DIMENSIONS LINÉAIRES ANALOGUES; MESURE DES ANGLES; MESURE DES SUPERFICIES; MESURE DES IRRÉGULARITÉS DES SURFACES OU CONTOURS
9
Instruments tels que spécifiés dans les sous-groupes et caractérisés par l'utilisation de moyens de mesure optiques
02
Interféromètres
G PHYSIQUE
02
OPTIQUE
B
ÉLÉMENTS, SYSTÈMES OU APPAREILS OPTIQUES
27
Autres systèmes optiques; Autres appareils optiques
10
Systèmes divisant ou combinant des faisceaux
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
N
TRANSMISSION D'IMAGES, p.ex. TÉLÉVISION
5
Détails des systèmes de télévision
222
Circuits de studio; Dispositifs de studio; Equipements de studio
225
Caméras de télévision
Déposants :
(주)비에스텍 BSTECH [KR/KR]; 경기도 화성시 삼성1로4길 45 45, Samsung 1-ro 4-gil Hwaseong-si Gyeonggi-do 18449, KR
Inventeurs :
오창환 OH, Chang Hwan; KR
Mandataire :
이진규 LEE, Jin Gyu; KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-011201101.09.2017KR
Titre (EN) THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED OPTICAL MEASUREMENT SYSTEM AND THREE-DIMENSIONAL INTEGRATED OPTICAL MEASUREMENT METHOD WHICH ARE FOR NON-CONTACT THREE-DIMENSIONAL MEASURING INSTRUMENT
(FR) SYSTÈME DE MESURE OPTIQUE INTÉGRÉ TRIDIMENSIONNEL ET PROCÉDÉ DE MESURE OPTIQUE INTÉGRÉ TRIDIMENSIONNEL DESTINÉS À UN INSTRUMENT DE MESURE TRIDIMENSIONNEL SANS CONTACT
(KO) 비접촉 3차원 측정기를 위한 3차원 통합 광학측정 시스템 및 3차원 통합 광학측정 방법
Abrégé :
(EN) The present invention relates to an integrated optical measurement system and a three-dimensional integrated optical measurement method which are for a non-contact three-dimensional measuring instrument and, more particularly, to a method for constructing, into an integrated system, an image measuring unit, a pointer laser measuring unit, a line laser measuring unit and a WSI measuring unit, and performing three-dimensional measurement therethrough. According to the present invention, heights can be measured in correspondence to various shapes and sizes, the height of a small photographed object can be precisely measured, and since the time required to obtain a height value with a small error range can be shortened, the time for obtaining three-dimensional measurement data from the photographed object can be significantly reduced.
(FR) La présente invention concerne un système de mesure optique intégré et un procédé de mesure optique intégré tridimensionnel destinés à un instrument de mesure tridimensionnel sans contact et, plus précisément, un procédé de construction, dans un système intégré, d'une unité de mesure d'image, d'une unité de mesure de laser de pointage, d'une unité de mesure de laser de ligne et d'une unité de mesure de WSI, et la réalisation d'une mesure tridimensionnelle par l'intermédiaire de ces dernières. Selon la présente invention, des hauteurs peuvent être mesurées en correspondance avec diverses formes et tailles, la hauteur d'un petit objet photographié peut être mesurée avec précision, et étant donné que le temps d'obtention d'une valeur de hauteur à faible plage d'erreur peut être raccourci, le temps d'obtention de données de mesure tridimensionnelles à partir de l'objet photographié peut être considérablement réduit.
(KO) 본 발명은 비접촉 3차원 측정기를 위한 통합 광학측정 시스템 및 3차원 통합 광학측정 방법에 관한 것으로서, 이미지 측정부, 포인터 레이저 측정부, 라인 레이저 측정부, WSI 측정부를 통합 시스템으로 구축하고 이를 통해 3차원 측정을 수행하는 방법에 관한 것이다. 본 발명에 따르면, 다양한 형태 및 크기에 대응하여 높이 측정이 가능하고, 작은 크기의 촬영물의 높이를 정밀하게 측정하되, 오차 범위가 작은 높이 값을 얻기까지의 시간을 단축시킬 수 있어 촬영물로부터 3차원 측정 데이터를 얻는 시간을 대폭 줄일 수 있다.
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)