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1. (WO2019045138) SYSTÈME D'ALIGNEMENT POUR SPECTROSCOPIE D'ABSORPTION À DIODE LASER ACCORDABLE (TDLAS) POUR MESURER SIMULTANÉMENT UN GAZ À PLUSIEURS CONSTITUANTS
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N° de publication : WO/2019/045138 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/009504
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 30.08.2017
CIB :
G01N 21/39 (2006.01) ,G01N 21/25 (2006.01) ,G01N 21/27 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31
en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
39
en utilisant des lasers à longueur d'onde réglable
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
27
en utilisant la détection photo-électrique
Déposants :
한국생산기술연구원 KOREA INSTITUTE OF INDUSTRIAL TECHNOLOGY [KR/KR]; 충청남도 천안시 서북구 입장면 양대기로길 89 89, Yangdaegiro-gil, Ipjang-myeon, Seobuk-gu Cheonan-si Chungcheongnam-do 31056, KR
Inventeurs :
이창엽 LEE, Chang-Yeop; KR
유미연 YOO, Mi-Yeon; KR
소성현 SO, Sung-Hyun; KR
맹새롬 MAENG, Sae-Rom; KR
Mandataire :
특허법인 아이퍼스 IPUS PATENT & LAW FIRM; 서울시 강남구 테헤란로20길 14, 다성빌딩 2층 2th floor, DaSung Building,14, Teheran-ro 20-gil Gangnam-Gu Seoul 06235, KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-011020430.08.2017KR
Titre (EN) ALIGNMENT SYSTEM FOR TDLAS FOR SIMULTANEOUSLY MEASURING MULTICOMPONENT GAS
(FR) SYSTÈME D'ALIGNEMENT POUR SPECTROSCOPIE D'ABSORPTION À DIODE LASER ACCORDABLE (TDLAS) POUR MESURER SIMULTANÉMENT UN GAZ À PLUSIEURS CONSTITUANTS
(KO) 다종가스 동시 측정 TDLAS 정렬 시스템
Abrégé :
(EN) The present invention is: a device enabling quick alignment within an operable time in order to enable the use of TDLAS in cases, such as for a discharge end, where a large amount of gas is present therein, and the distance thereof is far; and an alignment method using same. An alignment method is provided whereby a dual slot is used for alignment, and thus the direction of alignment may be known, thereby enabling convergence within a quick time.
(FR) La présente invention concerne : un dispositif permettant un alignement rapide dans un temps utilisable afin de permettre l'utilisation d'une spectroscopie d'absorption à diode laser accordable (TDLAS) dans des cas où, par exemple pour une extrémité de sortie, une grande quantité de gaz est présente dans celle-ci et sa distance est éloignée ; et un procédé d'alignement l'utilisant. L'invention concerne également un procédé d'alignement selon lequel une fente double est utilisée pour l'alignement, et ainsi la direction d'alignement peut être connue, ce qui permet une convergence dans un temps rapide.
(KO) 본원 발명은 배출단과 같이 내부에 많은 기체가 존재하고 거리가 먼 경우에 TDLAS를 활용할 수 있도록 운용 가능한 시간내에서 빠르게 정렬할 수 있는 장치 및 이를 이용한 정렬 방법이다. 정렬을 위해서 이중 슬릿을 사용함으로써 정렬에 대한 방향성을 알 수 있어 빠른 시간에 수렴할 수 있는 정렬 방법을 제공한다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)