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1. (WO2019045137) SYSTÈME DE MESURE PRÉCISE DES PRÉCURSEURS DE POUSSIÈRE FINE
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N° de publication : WO/2019/045137 N° de la demande internationale : PCT/KR2017/009503
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 30.08.2017
CIB :
G01N 21/39 (2006.01) ,G01N 21/03 (2006.01) ,G01N 33/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
25
Couleur; Propriétés spectrales, c. à d. comparaison de l'effet du matériau sur la lumière pour plusieurs longueurs d'ondes ou plusieurs bandes de longueurs d'ondes différentes
31
en recherchant l'effet relatif du matériau pour les longueurs d'ondes caractéristiques d'éléments ou de molécules spécifiques, p.ex. spectrométrie d'absorption atomique
39
en utilisant des lasers à longueur d'onde réglable
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01
Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03
Détails de structure des cuvettes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
Déposants :
한국생산기술연구원 KOREA INSTITUTE OF INDUSTRIAL TECHNOLOGY [KR/KR]; 충청남도 천안시 서북구 입장면 양대기로길 89 89, Yangdaegiro-gil, Ipjang-myeon, Seobuk-gu Cheonan-si Chungcheongnam-do 31056, KR
Inventeurs :
이창엽 LEE, Chang-Yeop; KR
유미연 YOO, Mi-Yeon; KR
소성현 SO, Sung-Hyun; KR
맹새롬 MAENG, Sae-Rom; KR
Mandataire :
특허법인 아이퍼스 IPUS PATENT & LAW FIRM; 서울시 강남구 테헤란로20길 14, 다성빌딩 2층 2th floor, DaSung Building,14, Teheran-ro 20-gil Gangnam-Gu Seoul 06235, KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-011020030.08.2017KR
Titre (EN) SYSTEM FOR PRECISELY MEASURING FINE DUST PRECURSORS
(FR) SYSTÈME DE MESURE PRÉCISE DES PRÉCURSEURS DE POUSSIÈRE FINE
(KO) 미세먼지 전구물질의 정밀 측정 시스템
Abrégé :
(EN) The present invention relates to a system for precisely measuring fine dust precursors, and relates to, among devices for measuring the concentrations of fine dust precursors NOx and SOx using the tunable diode laser absorption spectroscopy (TDLAS) method, a device capable of controlling the temperature of a measurement cell without vibration by using a thermoelectric element.
(FR) La présente invention concerne un système de mesure précise des précurseurs de poussière fine, et concerne, parmi les dispositifs de mesure des concentrations des précurseurs de poussière fine de type NOx et SOx à l'aide d'une technique de spectroscopie d'absorption laser à diode ajustable (TDLAS), un dispositif apte à réguler la température d'une cellule de mesure sans vibrations à l'aide d'un élément thermoélectrique.
(KO) 본원 발명은 미세먼지 전구물질의 정밀 측정 시스템에 관한 것으로서, 미세먼지의 전구물질인 NOx, SOx의 농도를 TDLAS(Tunable Diode Laser Absorption Spectroscopy)기법을 사용하여 측정하는 장치 중 측정 셀의 온도를 열전소자를 사용하여 진동없이 제어할 수 있는 장치에 관한 것이다.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : coréen (KO)
Langue de dépôt : coréen (KO)