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1. (WO2019044729) PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE D'ÉTAT ET DISPOSITIF DE SURVEILLANCE D'ÉTAT
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N° de publication : WO/2019/044729 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/031476
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 27.08.2018
CIB :
G01M 99/00 (2011.01) ,G05B 23/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
99
Matière non prévue dans les autres groupes de la présente sous-classe
G PHYSIQUE
05
COMMANDE; RÉGULATION
B
SYSTÈMES DE COMMANDE OU DE RÉGULATION EN GÉNÉRAL; ÉLÉMENTS FONCTIONNELS DE TELS SYSTÈMES; DISPOSITIFS DE CONTRÔLE OU D'ESSAIS DE TELS SYSTÈMES OU ÉLÉMENTS
23
Essai ou contrôle des systèmes de commande ou de leurs éléments
02
Essai ou contrôle électrique
Déposants :
NTN株式会社 NTN CORPORATION [JP/JP]; 大阪府大阪市西区京町堀1丁目3番17号 3-17, Kyomachibori 1-chome, Nishi-ku, Osaka-shi, Osaka 5500003, JP
Inventeurs :
筒井 英之 TSUTSUI, Hideyuki; JP
加藤 甲馬 KATOU, Kouma; JP
谷 僚二 TANI, Ryouji; JP
Mandataire :
特許業務法人深見特許事務所 FUKAMI PATENT OFFICE, P.C.; 大阪府大阪市北区中之島三丁目2番4号 中之島フェスティバルタワー・ウエスト Nakanoshima Festival Tower West, 2-4, Nakanoshima 3-chome, Kita-ku, Osaka-shi, Osaka 5300005, JP
Données relatives à la priorité :
2017-16682431.08.2017JP
2018-15346317.08.2018JP
Titre (EN) STATE-MONITORING METHOD AND STATE-MONITORING DEVICE
(FR) PROCÉDÉ DE SURVEILLANCE D'ÉTAT ET DISPOSITIF DE SURVEILLANCE D'ÉTAT
(JA) 状態監視方法および状態監視装置
Abrégé :
(EN) This state-monitoring method comprises: a first step for performing, on measurement data, a filter process in which each of a plurality of bandpass filters having mutually different central frequencies is used, and thereby generating a plurality of first waveforms; a second step for calculating a first feature amount for each of the plurality of first waveforms; a third step for plotting, for each of the plurality of bandpass filters, the central frequency of the bandpass filters and the first feature amount of a time waveform generated using the bandpass filters on a graph in which the horizontal axis indicates the the central frequency and the vertical axis indicates the first feature amount, and thereby calculating a second feature amount indicating the characteristics of a resulting second waveform; and a fourth step for determining, on the basis of the second feature amount calculated by performing the first through third steps on test data, whether an object under test is abnormal.
(FR) La présente invention concerne un procédé de surveillance d'état qui comprend : une première étape consistant à effectuer, sur des données de mesure, un processus de filtrage dans lequel est utilisé chaque filtre passe-bande d'une pluralité de filtres passe-bande ayant des fréquences centrales différentes les unes des autres et produisant ainsi une pluralité de premières formes d'onde ; une deuxième étape consistant à calculer une première quantité de caractéristiques pour chaque première forme d'onde de la pluralité de premières formes d'onde ; une troisième étape consistant à tracer, pour chaque filtre passe-bande de la pluralité de filtres passe-bande, la fréquence centrale des filtres passe-bande et la première quantité de caractéristiques d'une forme d'onde temporelle générée à l'aide des filtres passe-bande sur un graphique dans lequel l'axe horizontal indique la fréquence centrale et l'axe vertical indique la première quantité de caractéristiques et calculer ainsi une seconde quantité de caractéristiques indiquant les caractéristiques d'une seconde forme d'onde obtenue ; et une quatrième étape consistant à déterminer, sur la base de la seconde quantité de caractéristiques calculée par réalisation des première, deuxième et troisième étapes sur des données de test, si un objet soumis à un test est anormal.
(JA) 状態監視方法は、測定データに対して、互いに異なる中心周波数を有する複数のバンドパスフィルタの各々を用いたフィルタ処理を行なうことにより、複数の第1波形を生成する第1工程と、複数の第1波形の各々に対して第1特徴量を算出する第2工程と、中心周波数を横軸とし、第1特徴量を縦軸とするグラフに、複数のバンドパスフィルタの各々について、当該バンドパスフィルタの中心周波数と、当該バンドパスフィルタを用いて生成された時間波形の第1特徴量とをプロットすることにより得られる第2波形の特徴を示す第2特徴量を算出する第3工程と、テストデータに対して第1~第3工程を行なうことにより算出された第2特徴量に基づいて、被試験対象物が異常か否かを判定する第4工程とを備える。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)