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1. (WO2019044418) PUCE DE MESURE, DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE
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N° de publication : WO/2019/044418 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/029512
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 07.08.2018
CIB :
G01N 21/41 (2006.01) ,G01N 33/543 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
41
Réfringence; Propriétés liées à la phase, p.ex. longueur du chemin optique
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
33
Recherche ou analyse des matériaux par des méthodes spécifiques non couvertes par les groupes G01N1/-G01N31/146
48
Matériau biologique, p.ex. sang, urine; Hémocytomètres
50
Analyse chimique de matériau biologique, p.ex. de sang, d'urine; Recherche ou analyse par des méthodes faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques par ligands; Recherche ou analyse immunologique
53
Essais immunologiques; Essais faisant intervenir la formation de liaisons biospécifiques; Matériaux à cet effet
543
avec un support insoluble pour l'immobilisation de composés immunochimiques
Déposants :
古野電気株式会社 FURUNO ELECTRIC CO., LTD. [JP/JP]; 兵庫県西宮市芦原町9番52号 9-52, Ashihara-Cho, Nishinomiya-City, Hyogo 6628580, JP
Inventeurs :
多田 啓二 TADA, Keiji; JP
Données relatives à la priorité :
2017-16738831.08.2017JP
Titre (EN) MEASUREMENT CHIP, MEASUREMENT DEVICE, AND MEASUREMENT METHOD
(FR) PUCE DE MESURE, DISPOSITIF DE MESURE ET PROCÉDÉ DE MESURE
(JA) 測定用チップ、測定装置、および測定方法
Abrégé :
(EN) [Problem] To provide a measurement chip, measurement device, and measurement method that make it possible to simply and highly precisely estimate an analyte concentration. [Solution] This measurement chip comprises a propagation layer, introduction part, extraction part, and reaction part. Light propagates through the propagation layer. The introduction part is for introducing the light into the propagation layer. The extraction part is for extracting the light from the propagation layer. The surface of the propagation layer has a reactant which is formed thereon and reacts with an object of detection. On the surface of the propagation layer, the reaction part includes an area spanning a prescribed length in the propagation direction of the light in which the reactant content changes evenly in a perpendicular direction orthogonal to the propagation direction.
(FR) [Problème] Fournir une puce de mesure, un dispositif de mesure et un procédé de mesure qui permettent d’estimer de façon simple et très précise la concentration d’un analyte. [Solution] La présente invention concerne une puce de mesure qui comprend une couche de propagation, une partie d’introduction, une partie d’extraction et une partie de réaction La lumière se propage à travers la couche de propagation. La partie d’introduction est destinée à introduire la lumière dans la couche de propagation. La partie d’extraction est destinée à extraire la lumière provenant de la couche de propagation. La surface de la couche de propagation comporte un réactif qui est formé sur celle-ci et réagit avec un objet de détection. Sur la surface de la couche de propagation, la partie de réaction comprend une zone couvrant une longueur prescrite dans la direction de propagation de la lumière dans laquelle la teneur de réactif change uniformément dans une direction perpendiculaire orthogonale à la direction de propagation.
(JA) 【課題】アナライト濃度を簡易かつ高精度に推定することができる測定用チップ、測定装置、および測定方法を提供する。 【解決手段】測定用チップは、伝搬層と、導入部と、導出部と、反応部と、を備えている。伝搬層は、光が伝搬する。導入部は、前記伝搬層に前記光を導入する。導出部は、前記伝搬層から前記光を導出する。反応部は、被検出物質に反応する反応物質が形成された前記伝搬層の表面において、前記光の伝搬方向に所定の長さに亘って、前記反応物質の含有量が前記伝搬方向に直交する垂直方向で単調に変化する領域を含む。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)