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1. (WO2019044250) CAPTEUR DE DÉTECTION DE PARTICULES
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N° de publication : WO/2019/044250 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/027221
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 20.07.2018
CIB :
G01N 15/02 (2006.01) ,G01N 15/14 (2006.01) ,G01N 21/03 (2006.01) ,G01N 21/47 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
02
Recherche de la dimension ou de la distribution des dimensions des particules
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
15
Recherche de caractéristiques de particules; Recherche de la perméabilité, du volume des pores ou de l'aire superficielle effective de matériaux poreux
10
Recherche de particules individuelles
14
Recherche par des moyens électro-optiques
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
01
Dispositions ou appareils pour faciliter la recherche optique
03
Détails de structure des cuvettes
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
21
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de moyens optiques, c. à d. en utilisant des rayons infrarouges, visibles ou ultraviolets
17
Systèmes dans lesquels la lumière incidente est modifiée suivant les propriétés du matériau examiné
47
Dispersion, c. à d. réflexion diffuse
Déposants :
パナソニックIPマネジメント株式会社 PANASONIC INTELLECTUAL PROPERTY MANAGEMENT CO., LTD. [JP/JP]; 大阪府大阪市中央区城見2丁目1番61号 1-61, Shiromi 2-chome, Chuo-ku, Osaka-shi, Osaka 5406207, JP
Inventeurs :
永谷 吉祥 NAGATANI Yoshiharu; --
中川 貴司 NAKAGAWA Takashi; --
川人 圭子 KAWAHITO Keiko; --
安池 則之 YASUIKE Noriyuki; --
Mandataire :
鎌田 健司 KAMATA Kenji; JP
前田 浩夫 MAEDA Hiroo; JP
Données relatives à la priorité :
2017-16448629.08.2017JP
Titre (EN) PARTICLE DETECTION SENSOR
(FR) CAPTEUR DE DÉTECTION DE PARTICULES
(JA) 粒子検出センサ
Abrégé :
(EN) A particle detection sensor (1) that detects a plurality of particles contained in a subject to be measured is provided with: a light projection unit (20) that outputs light toward a detection region (DA); a light receiving unit (30) which, in the cases where a particle to be detected, i.e., at least one of the particles, passes through the detection region (DA), receives light scattered by the particle; a housing (10), which houses the light projection unit (20) and the light receiving unit (30), and which has the detection region (DA) inside; and a signal processing circuit (50). The signal processing circuit (50) acquires the amount of intensity change of stray light over time, said stray light having been received by the light receiving unit (30) when the particles were not passing through the detection region (DA), then, on the basis of the acquired change amount over time, the signal processing circuit corrects the intensity of the scattering light thus received, and on the basis of corrected intensity of the scattering light thus received, classifies the particle into any one of the groups of a plurality of particle sizes, and identifies the number of detected particles, thereby calculating the mass concentration of the particles contained in the subject to be measured.
(FR) L'invention concerne un capteur de détection de particules (1) qui détecte une pluralité de particules contenues dans un sujet à mesurer, comprenant : une unité de projection de lumière (20) qui émet de la lumière vers une zone de détection (DA) ; une unité de réception de lumière (30) qui, dans les cas où une particule à détecter, c'est-à-dire au moins l'une des particules, passe à travers la zone de détection (DA), reçoit la lumière diffusée par la particule ; un boîtier (10), qui loge l'unité de projection de lumière (20) et l'unité de réception de lumière (30), et qui comprend la zone de détection (DA) en son sein ; et un circuit de traitement de signal (50). Le circuit de traitement de signal (50) acquiert la quantité de changement d'intensité de lumière parasite dans le temps, ladite lumière parasite ayant été reçue par l'unité de réception de lumière (30) lorsque les particules ne sont pas passées à travers la zone de détection (DA), puis, en fonction de la quantité de changement acquise dans le temps, le circuit de traitement de signal corrige l'intensité de la lumière de diffusion ainsi reçue, et en fonction de l'intensité corrigée de la lumière de diffusion ainsi reçue, classifie la particule dans l'un quelconque des groupes d'une pluralité de tailles de particules, et identifie le nombre de particules détectées, ce qui permet de calculer la concentration massique des particules contenues dans le sujet à mesurer.
(JA) 計測対象に含まれる複数の粒子を検出する粒子検出センサ(1)は、検出領域(DA)に向けて光を出射する投光部(20)と、複数の粒子の少なくとも1つである対象粒子が検出領域(DA)を通過した場合に、当該対象粒子による光の散乱光を受光する受光部(30)と、投光部(20)及び受光部(30)を収納し、内部に検出領域(DA)を有する筐体(10)と、信号処理回路(50)とを備え、信号処理回路(50)は、複数の粒子が検出領域(DA)を通過していない時に受光部(30)によって受光される迷光の受光強度の経時変化量を取得し、取得した経時変化量に基づいて、散乱光の受光強度を補正し、補正された散乱光の受光強度に基づいて、対象粒子を複数の粒子サイズのいずれかに分類し、かつ、検出された対象粒子の個数を特定することで、計測対象に含まれる粒子の質量濃度を算出する。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)