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1. (WO2019044213) DISPOSITIF D'IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEUR ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
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N° de publication : WO/2019/044213 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/026604
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 13.07.2018
CIB :
H01L 27/146 (2006.01) ,H01L 31/0236 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
27
Dispositifs consistant en une pluralité de composants semi-conducteurs ou d'autres composants à l'état solide formés dans ou sur un substrat commun
14
comprenant des composants semi-conducteurs sensibles aux rayons infrarouges, à la lumière, au rayonnement électromagnétique d'ondes plus courtes ou au rayonnement corpusculaire, et spécialement adaptés, soit comme convertisseurs de l'énergie dudit rayonnement en énergie électrique, soit comme dispositifs de commande de l'énergie électrique par ledit rayonnement
144
Dispositifs commandés par rayonnement
146
Structures de capteurs d'images
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
L
DISPOSITIFS À SEMI-CONDUCTEURS; DISPOSITIFS ÉLECTRIQUES À L'ÉTAT SOLIDE NON PRÉVUS AILLEURS
31
Dispositifs à semi-conducteurs sensibles aux rayons infrarouges, à la lumière, au rayonnement électromagnétique d'ondes plus courtes, ou au rayonnement corpusculaire, et spécialement adaptés, soit comme convertisseurs de l'énergie dudit rayonnement en énergie électrique, soit comme dispositifs de commande de l'énergie électrique par ledit rayonnement; Procédés ou appareils spécialement adaptés à la fabrication ou au traitement de ces dispositifs ou de leurs parties constitutives; Leurs détails
02
Détails
0236
Textures de surface particulières
Déposants :
SONY SEMICONDUCTOR SOLUTIONS CORPORATION [JP/JP]; 4-14-1 Asahi-cho, Atsugi-shi, Kanagawa 2430014, JP
Inventeurs :
YOKOGAWA, Sozo; JP
Mandataire :
MARUSHIMA, Toshikazu; JP
Données relatives à la priorité :
2017-16826001.09.2017JP
Titre (EN) SOLID-STATE IMAGING DEVICE AND ELECTRONIC APPARATUS
(FR) DISPOSITIF D'IMAGERIE À SEMI-CONDUCTEUR ET APPAREIL ÉLECTRONIQUE
Abrégé :
(EN) An imaging device includes a first photoelectric conversion region (170) receiving light within a first range of wavelengths, a second photoelectric conversion region (170) receiving light within a second range of wavelengths, and a third photoelectric conversion region (170) receiving light within a third range of wavelengths. At least a portion of a light-receiving surface of the first photoelectric conversion region has a first concave-convex structure (113), and a light-receiving surface of the second photoelectric conversion region has a different structure (111) than the first concave-convex structure.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'imagerie comprenant une première région de conversion photoélectrique (170) recevant de la lumière dans une première plage de longueurs d'onde, une seconde région de conversion photoélectrique (170) recevant de la lumière dans une seconde plage de longueurs d'onde, et une troisième région de conversion photoélectrique (170) recevant de la lumière dans une troisième plage de longueurs d'onde. Au moins une partie d'une surface de réception de lumière de la première région de conversion photoélectrique a une première structure concave-convexe (113), et une surface de réception de lumière de la seconde région de conversion photoélectrique a une structure différente (111) de la première structure concave-convexe.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB) (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)