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1. (WO2019043551) DÉTECTION DE BITS NON FIABLES DANS DE LA CIRCUITERIE À TRANSISTORS
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N° de publication : WO/2019/043551 N° de la demande internationale : PCT/IB2018/056485
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 27.08.2018
CIB :
G09C 1/00 (2006.01) ,H04L 9/08 (2006.01)
G PHYSIQUE
09
ENSEIGNEMENT; CRYPTOGRAPHIE; PRÉSENTATION; PUBLICITÉ; SCEAUX
C
APPAREILS À CHIFFRER OU À DÉCHIFFRER POUR LA CRYPTOGRAPHIE OU D'AUTRES FINS IMPLIQUANT LA NÉCESSITÉ DU SECRET
1
Appareils ou méthodes au moyen desquels une suite donnée de signes, p.ex. un texte intelligible, est transformée en une suite de signes inintelligibles en transposant les signes ou groupes de signes ou en les remplaçant par d'autres suivant un système préétabli
H ÉLECTRICITÉ
04
TECHNIQUE DE LA COMMUNICATION ÉLECTRIQUE
L
TRANSMISSION D'INFORMATION NUMÉRIQUE, p.ex. COMMUNICATION TÉLÉGRAPHIQUE
9
Dispositions pour les communications secrètes ou protégées
06
l'appareil de chiffrement utilisant des registres à décalage ou des mémoires pour le codage par blocs, p.ex. système DES
08
Répartition de clés
Déposants :
BAR ILAN UNIVERSITY [IL/IL]; 5290002 Ramat Gan, IL
Inventeurs :
SHOR, Joseph; IL
WEIZMAN, Yoav; IL
SCHIFMANN, Yitzhak; IL
Mandataire :
KLEIN, David; IL
Données relatives à la priorité :
15/694,80903.09.2017US
Titre (EN) DETECTING UNRELIABLE BITS IN TRANSISTOR CIRCUITRY
(FR) DÉTECTION DE BITS NON FIABLES DANS DE LA CIRCUITERIE À TRANSISTORS
Abrégé :
(EN) A method for detecting unreliable bits in transistor circuitry includes applying a controllable physical parameter to a transistor circuitry, thereby causing a variation in a digital code of a cryptologic element in the transistor circuitry, the variation being a tilt or bias in a positive or negative direction. An amount of variation in the digital code of the cryptologic element is determined. Unreliable bits in the transistor circuitry are defined as those bits for which the variation is in a range defined as unreliable.
(FR) Selon l'invention, un procédé de détection de bits non fiables dans de la circuiterie à transistors consiste à appliquer un paramètre physique contrôlable à de la circuiterie à transistors, ce qui provoque une variation d'un code numérique d'un élément cryptologique dans la circuiterie à transistors, la variation étant une inclinaison ou une polarisation dans une direction positive ou négative. Une grandeur de variation du code numérique de l'élément cryptologique est déterminée. Des bits non fiables dans la circuiterie à transistors sont définis comme étant les bits pour lesquels la variation est dans une plage définie comme étant non fiable.
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)