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1. (WO2019041662) DISPOSITIF DE TEST DE DRAM ET PROCÉDÉ
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N° de publication : WO/2019/041662 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/117226
Date de publication : 07.03.2019 Date de dépôt international : 19.12.2017
CIB :
G11C 29/56 (2006.01)
G PHYSIQUE
11
ENREGISTREMENT DE L'INFORMATION
C
MÉMOIRES STATIQUES
29
Vérification du fonctionnement correct des mémoires; Test de mémoires lors d'opération en mode de veille ou hors-ligne
56
Équipements externes pour test de mémoires statiques, p.ex. équipement de test automatique (ATE); Interfaces correspondantes
Déposants :
深圳市江波龙电子有限公司 SHENZHEN LONGSYS ELECTRONICS CO., LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市 南山区科发路8号金融服务技术创新基地1栋8楼A、B、C、D、E、F1 A-B-C-D-E-F1, 8F, 1 Building, Financial Base, No.8, Kefa Road, High-Tech Park, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Inventeurs :
龙红卫 LONG, Hongwei; CN
卢浩 LU, Hao; CN
李志雄 LI, Zhixiong; CN
肖浩 XIAO, Hao; CN
吴方 WU, Fang; CN
胡宏辉 HU, Honghui; CN
邓恩华 DENG, Enhua; CN
谭康强 TAN, Kangqiang; CN
Mandataire :
深圳市六加知识产权代理有限公司 LIUJIA CHINA IP LAW OFFICE; 中国广东省深圳市 南山区南海大道4050号上汽大厦207室 Room 207, Shangqi Building 4050# Nanhai Road, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518057, CN
Données relatives à la priorité :
201710754549.329.08.2017CN
Titre (EN) DRAM TEST DEVICE AND METHOD
(FR) DISPOSITIF DE TEST DE DRAM ET PROCÉDÉ
(ZH) DRAM测试装置及方法
Abrégé :
(EN) A DRAM test device, comprising: a test frame (101) for inserting a DRAM to be tested, a program storage module (102) for storing a test program, a current test module (103) and a test control module (104). The test control module (104) receives a test switch command of carrying out a current test and a function test on the DRAM to be tested and uploading the test results (S120). By setting the test control module (104), the pre-stored test program is read to complete the function test of the DRAM, and the current test module (103) can also be controlled to load voltage to the DRAM for the current test. Defective products are picked out by setting a low-cost independent module to test the DRAM, and the maximum use efficiency is achieved.
(FR) L'invention concerne un dispositif de test de DRAM, comprenant : une trame de test (101) pour insérer une DRAM à tester , un module de stockage de programme (102) pour stocker un programme de test, un module de test de courant (103) et un module de commande de test (104). Le module de commande de test (104) reçoit une commande de commutateur de test consistant à effectuer un test de courant et un test de fonction sur la DRAM à tester et à télécharger les résultats de test (S120). En réglant le module de commande de test (104), le programme de test pré-stocké est lu pour achever le test de fonction de la DRAM, et le module de test de courant (103) peut également être commandé pour charger une tension à la DRAM pour le test de courant. Des produits défectueux sont prélevés par réglage d'un module indépendant de faible coût pour tester la DRAM, et l'efficacité d'utilisation maximale est obtenue.
(ZH) 一种DRAM测试装置,包括用于插接待测试DRAM的测试架(101)、用于存储测试程序的程序储存模块(102)、电流测试模块(103)以及测试控制模块(104),所述测试控制模块(104)接收测试开关命令对待测试DRAM进行电流测试和功能测试并上传测试结果(S120),通过设置测试控制模块(104),读取预存的测试程序对DRAM完成功能测试,也可以控制电流测试模块(103)对DRAM加载电压进行电流测试,通过设置低成本的独立模块对DRAM进行测试,将不良品挑选出来,达到最大的使用效率。
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Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)