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1. (WO2019033624) SYSTÈME D'INSPECTION DE RÉSEAU DE MICROLENTILLES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE RÉSEAU DE MICROLENTILLES
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N° de publication : WO/2019/033624 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/114731
Date de publication : 21.02.2019 Date de dépôt international : 06.12.2017
CIB :
G01M 11/00 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11
Essai des appareils d'optique; Essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
Déposants :
深圳光峰科技股份有限公司 APPOTRONICS CORPORATION LIMITED [CN/CN]; 中国广东省深圳市南山区粤海街道学府路63号高新区联合总部大厦20-22楼 20F-22F, High-Tech Zone Union Tower, No.63, Xuefu Road, Yuehai Street, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518000, CN
Inventeurs :
杜鹏 DU, Peng; CN
周萌 ZHOU, Meng; CN
李屹 LI, Yi; CN
Données relatives à la priorité :
201710693965.714.08.2017CN
Titre (EN) MICROLENS ARRAY INSPECTION SYSTEM AND MICROLENS ARRAY INSPECTION METHOD
(FR) SYSTÈME D'INSPECTION DE RÉSEAU DE MICROLENTILLES ET PROCÉDÉ D'INSPECTION DE RÉSEAU DE MICROLENTILLES
(ZH) 微透镜阵列检测系统及微透镜阵列的检测方法
Abrégé :
(EN) A microlens array inspection system (100, 200, and 300) and a microlens array inspection method. The microlens array inspection system (100, 200, and 300) comprises: a light source apparatus (110, 210, and 310), a microlens array to be inspected (120, 220, and 320), an optic stop (140), and a luminous flux testing apparatus. The light source apparatus (110, 210, and 310) is used for emitting a light. The microlens array to be inspected (120, 220, and 320) is used for receiving and transmitting the light. The optic stop (140) comprises an aperture having a preset diameter. The aperture is used for transmitting the light emitted by the microlens array to be inspected (120, 220, and 320). The luminous flux testing apparatus is used for testing respectively a first luminous flux prior to passing though the optic stop (140) and a second luminous flux after passing through the optic stop (140). The first luminous flux and the second luminous flux are used for analyzing the quality of the microlens array to be inspected (120, 220, and 230). The microlens array inspection system (100, 200, and 300) and the microlens array inspection method employing the microlens array inspection system (100, 200, and 300) are simple and efficient to operate and highly accurate.
(FR) L'invention concerne un système d'inspection de réseau de microlentilles (100, 200, 300) et un procédé d'inspection d'e réseau de microlentilles. Le système d'inspection de réseau de microlentilles (100, 200, 300) comprend : un appareil source de lumière (110, 210, 310), un réseau de microlentilles à inspecter (120, 220, 320), une butée optique (140), et un appareil de test de flux lumineux. L'appareil source de lumière (110, 210, 310) est utilisé pour émettre une lumière. Le réseau de microlentilles à inspecter (120, 220, 320) est utilisé pour recevoir et transmettre la lumière. La butée optique (140) comprend une ouverture de diamètre prédéfini. L'ouverture est utilisée pour transmettre la lumière émise par le réseau de microlentilles à inspecter (120, 220, 320). L'appareil de test de flux lumineux est utilisé pour tester respectivement un premier flux lumineux avant son passage à travers la butée optique (140) et un second flux lumineux après son passage à travers la butée optique (140). Le premier flux lumineux et le second flux lumineux sont utilisés pour analyser la qualité du réseau de microlentilles à inspecter (120, 220, 230). Le système d'inspection de réseau de microlentilles (100, 200, 300) et le procédé d'inspection de réseau de microlentilles utilisant le système d'inspection de réseau de microlentilles (100, 200, 300) sont simples et efficaces à mettre en oeuvre et hautement précis.
(ZH) 一种微透镜阵列检测系统(100、200、300)及微透镜阵列的检测方法,微透镜阵列检测系统(100、200、300)包括:光源装置(110、210、310)、待测微透镜阵列(120、220、320)、光阑(140)及光通量测试装置,光源装置(110、210、310)用于发射光线;待测微透镜阵列(120、220、320)用于接收并透射光线;光阑(140)包含一具有预设孔径的通光孔,通光孔用于透射待测微透镜阵列(120、220、320)出射的光线;光通量测试装置用于分别测试光线通过光阑(140)前的第一光通量及通过光阑(140)后的第二光通量,第一光通量与第二光通量用于分析待测微透镜阵列(120、220、320)的质量。微透镜阵列检测系统(100、200、300)及采用微透镜阵列检测系统(100、200、300)的微透镜阵列的检测方法操作简单高效,准确率高。
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Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)