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1. (WO2019033172) ENSEMBLE DE TRAITEMENT D'ÉCHANTILLON
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N° de publication : WO/2019/033172 N° de la demande internationale : PCT/AU2018/050875
Date de publication : 21.02.2019 Date de dépôt international : 17.08.2018
CIB :
G01N 1/28 (2006.01) ,B01L 1/00 (2006.01) ,B01L 9/00 (2006.01) ,G01N 1/31 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28
Préparation d'échantillons pour l'analyse
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01
PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
L
APPAREILS DE LABORATOIRE POUR LA CHIMIE OU LA PHYSIQUE, À USAGE GÉNÉRAL
1
Enceintes; Chambres
B TECHNIQUES INDUSTRIELLES; TRANSPORTS
01
PROCÉDÉS OU APPAREILS PHYSIQUES OU CHIMIQUES EN GÉNÉRAL
L
APPAREILS DE LABORATOIRE POUR LA CHIMIE OU LA PHYSIQUE, À USAGE GÉNÉRAL
9
Dispositifs de support; Dispositifs de serrage
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
1
Echantillonnage; Préparation des éprouvettes pour la recherche
28
Préparation d'échantillons pour l'analyse
30
Teinture; Imprégnation
31
Appareils à cet effet
Déposants :
LEICA BIOSYSTEMS MELBOURNE PTY LTD [AU/AU]; 495 Blackburn Road Mt Waverley, Victoria 3149, AU
Inventeurs :
RICHARDS, Campbell; AU
KING, Matthew, Struan; AU
LIM, Cyril; AU
Mandataire :
PHILLIPS ORMONDE FITZPATRICK; Level 16 333 Collins Street Melbourne, Victoria 3000, AU
Données relatives à la priorité :
201790330717.08.2017AU
Titre (EN) SAMPLE PROCESSING ASSEMBLY
(FR) ENSEMBLE DE TRAITEMENT D'ÉCHANTILLON
Abrégé :
(EN) A sample processing assembly for treatment of a sample on a substrate, the assembly including: a mounting surface for the substrate; and a cover member, the cover member being movable between an open position and a substantially closed position, wherein, when the substrate is placed in the assembly and the cover member is in the substantially closed position, a reaction chamber is formed for processing the sample between the cover member and the substrate, and wherein the mounting surface provides for an air gap between the substrate and the mounting surface. An instrument for treatment of a sample on a substrate including at least one sample processing assembly as provided herein. A method of placing a substrate in a sample processing assembly is also provided.
(FR) L’invention concerne un ensemble de traitement d'échantillon pour le traitement d'un échantillon sur un substrat, l'ensemble comprenant : une surface de montage pour le substrat ; et un élément de couvercle, l'élément de couvercle étant mobile entre une position ouverte et une position sensiblement fermée, lorsque le substrat est placé dans l'ensemble et que l'élément de couvercle est dans la position sensiblement fermée, une chambre de réaction est formée pour traiter l'échantillon entre l'élément de couvercle et le substrat, et la surface de montage assurant un espace d'air entre le substrat et la surface de montage. L'invention concerne également un instrument pour le traitement d'un échantillon sur un substrat comprenant au moins un ensemble de traitement d'échantillon tel que décrit ici. L'invention concerne un procédé de positionnement d'un substrat dans un ensemble de traitement d'échantillon.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)