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1. (WO2019032109) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR VÉRIFIER UN RÉGLAGE ET ÉCART DIOPTRIQUES D'UN OCULAIRE DE SYSTÈME OPTIQUE
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N° de publication : WO/2019/032109 N° de la demande internationale : PCT/US2017/046205
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 10.08.2017
CIB :
G01M 11/02 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
M
ESSAI D'ÉQUILIBRAGE STATIQUE OU DYNAMIQUE DES MACHINES, DES STRUCTURES OU DES OUVRAGES; ESSAI DES STRUCTURES, DES OUVRAGES OU DES APPAREILS, NON PRÉVU AILLEURS
11
Essai des appareils d'optique; Essai des structures ou ouvrages par des méthodes optiques, non prévu ailleurs
02
Essai des propriétés optiques
Déposants :
BAE SYSTEMS INFORMATION AND ELECTRONIC SYSTEMS INTEGRATION INC. [US/US]; P.O. Box 868 NHQ1-719 Nashua, NH 03061-0868, US
Inventeurs :
SPAHR, Erik, J.; US
MASTERS, David, L.; US
Mandataire :
WERNOW, Howard, L.; US
MIHALIC, Nicholas A.; US
SEBOLT, Joseph A.; US
FERGUSON, Fiona H.; US
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SYSTEM AND METHOD FOR VERIFYING A DIOPTER SETTING AND RANGE OF AN OPTICAL SYSTEM EYEPIECE
(FR) SYSTÈME ET PROCÉDÉ POUR VÉRIFIER UN RÉGLAGE ET ÉCART DIOPTRIQUES D'UN OCULAIRE DE SYSTÈME OPTIQUE
Abrégé :
(EN) The present disclosure relates to a system and method for verifying a diopter setting and range of an optical system eyepiece by utilizing an image sensor to view and analyze test patterns of spots displayed within the optical system eyepiece and calculating the diopter setting and range of the optical system eyepiece from an observed change in the test pattern at different diopter settings
(FR) La présente invention concerne un système et un procédé pour vérifier un réglage et écart dioptriques d'un oculaire de système optique en utilisant un capteur d'image pour visualiser et analyser des mires de points affichées à l'intérieur de l'oculaire de système optique et calculer le réglage et l'écart dioptriques de l'oculaire de système optique à partir d'un changement observé dans la mire au niveau de différents réglages dioptriques.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)