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1. (WO2019031826) DISPOSITIF DE TEST
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N° de publication : WO/2019/031826 N° de la demande internationale : PCT/KR2018/008989
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 07.08.2018
CIB :
G01R 1/067 (2006.01) ,G01R 1/18 (2006.01) ,G01R 1/073 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
18
Aménagements de blindage contre les champs électriques ou magnétiques, p.ex. contre le champ terrestre
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
1
Détails ou dispositions des appareils des types couverts par les groupes G01R5/-G01R13/125
02
Éléments structurels généraux
06
Conducteurs de mesure; Sondes de mesure
067
Sondes de mesure
073
Sondes multiples
Déposants :
LEENO INDUSTRIAL INC. [KR/KR]; 10 105 beon-gil, MieumSandan-ro Gangseo-gu Busan 46748, KR
Inventeurs :
KIM, Geun-su; KR
JEONG, Jae-hwan; KR
Mandataire :
HUH, Sung-Won; KR
SEO, Dong-heon; KR
LEE, Dong-uk; KR
Données relatives à la priorité :
10-2017-010227011.08.2017KR
Titre (EN) TEST DEVICE
(FR) DISPOSITIF DE TEST
Abrégé :
(EN) Disclosed is a test device for testing electric characteristics of an object to be tested. The test device comprises a test circuit board comprising an insulating base substrate formed with a printed circuit, a plurality of signal contact points connected to the printed circuit and applying a test signal to the object to be tested, and a substrate shielding portion formed in a thickness direction of the base substrate between the plurality of signal contact points; and a test socket comprising a plurality of signal pins to be in contact with the plurality of signal contact points, and a conductive block supporting the plurality of signal pins without contact. With this, a secure noise shield is made between lines for applying a test signal when a high-frequency and high-seed semiconductor is subjected to the test, thereby improving reliability of the test.
(FR) L'invention concerne un dispositif de test permettant de tester les caractéristiques électriques d'un objet à tester. Le dispositif de test comprend une carte de circuits de test comprenant un substrat de base isolant formé d'un circuit imprimé, d'une pluralité de points de contact de signal connectés au circuit imprimé et appliquant un signal de test sur l'objet à tester, et d'une partie de blindage de substrat formée dans une direction de l'épaisseur du substrat de base entre la pluralité de points de contact de signal ; et une prise de test comprenant une pluralité de broches de signal destinées à venir en contact avec la pluralité de points de contact de signal, et un bloc conducteur portant la pluralité de broches de signal sans contact. Ainsi, un blindage sécurisé contre le bruit est créé entre des lignes d'application d'un signal de test lorsqu'un semi-conducteur à haute fréquence et à grande vitesse est soumis au test, ce qui permet d'améliorer la fiabilité du test.
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)