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1. (WO2019031331) DISPOSITIF D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, PROGRAMME D'ANALYSE ET DISPOSITIF D'APPRENTISSAGE D'ANALYSE
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N° de publication : WO/2019/031331 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/028812
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 01.08.2018
CIB :
G01N 21/3504 (2014.01)
[IPC code unknown for G01N 21/3504]
Déposants :
株式会社堀場製作所 HORIBA, LTD. [JP/JP]; 京都府京都市南区吉祥院宮の東町2番地 2, Miyanohigashi-cho, Kisshoin, Minami-ku, Kyoto-shi, Kyoto 6018510, JP
Inventeurs :
安藤 嘉健 ANDO, Yoshitake; JP
足立 正之 ADACHI, Masayuki; JP
Mandataire :
西村 竜平 NISHIMURA, Ryuhei; JP
Données relatives à la priorité :
2017-15278707.08.2017JP
Titre (EN) ANALYZER, ANALYSIS METHOD, ANALYZER PROGRAM, AND ANALYSIS LEARNING DEVICE
(FR) DISPOSITIF D'ANALYSE, PROCÉDÉ D'ANALYSE, PROGRAMME D'ANALYSE ET DISPOSITIF D'APPRENTISSAGE D'ANALYSE
(JA) 分析装置、分析方法、分析装置用プログラム及び分析用学習装置
Abrégé :
(EN) An analyzer for analyzing a measurement sample on the basis of spectral data obtained by irradiating the measurement sample with light, the analyzer being characterized by being equipped with a total analysis value calculation unit for calculating a total analysis value of multiple components in the measurement sample from the spectral data of the measurement sample, on the basis of the total analysis value of a reference sample for which the total analysis value of a prescribed plurality of components has been obtained in advance.
(FR) L'invention concerne un dispositif d'analyse permettant d'analyser un échantillon de mesure en fonction de données spectrales obtenues par exposition de l'échantillon de mesure à la lumière, le dispositif d'analyse comprenant une unité de calcul de valeur d'analyse totale permettant de calculer une valeur d'analyse totale de composants multiples dans l'échantillon de mesure à partir des données spectrales de l'échantillon de mesure, en fonction de la valeur d'analyse totale d'un échantillon de référence pour lequel la valeur d'analyse totale d'une pluralité prescrite de composants a été obtenue à l'avance.
(JA) 測定試料に光を照射して得られるスペクトルデータに基づいて当該測定試料を分析するものであって、所定複数成分の合計分析値が予め求められている参照試料の当該合計分析値に基づいて、測定試料のスペクトルデータから当該測定試料における前記複数成分の合計分析値を算出する合計分析値算出部を備えていることを特徴とする分析装置である。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
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Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)