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1. (WO2019031019) DISPOSITIF D’ANALYSE QUANTITATIVE DE PHASE CRISTALLINE, PROCÉDÉ D’ANALYSE QUANTITATIVE DE PHASE CRISTALLINE ET PROGRAMME D’ANALYSE QUANTITATIVE DE PHASE CRISTALLINE
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N° de publication : WO/2019/031019 N° de la demande internationale : PCT/JP2018/019359
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 18.05.2018
CIB :
G01N 23/2055 (2018.01) ,G01N 23/207 (2018.01)
[IPC code unknown for G01N 23/2055]
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
N
RECHERCHE OU ANALYSE DES MATÉRIAUX PAR DÉTERMINATION DE LEURS PROPRIÉTÉS CHIMIQUES OU PHYSIQUES
23
Recherche ou analyse des matériaux par l'utilisation de rayonnement (ondes ou particules) non couvertes par le groupe G01N21/ ou G01N22/183
20
en utilisant la diffraction de la radiation, p.ex. pour rechercher la structure cristalline, en utilisant la réflexion de la radiation
207
par diffractométrie en utilisant des détecteurs, p.ex. en utilisant un cristal d'analyse ou un cristal à analyser en position centrale avec un ou plusieurs détecteurs mobiles disposés circonférentiellement
Déposants :
株式会社リガク RIGAKU CORPORATION [JP/JP]; 東京都昭島市松原町3丁目9番12号 3-9-12, Matsubara-cho, Akishima-shi, Tokyo 1968666, JP
Inventeurs :
虎谷 秀穂 TORAYA, Hideo; JP
室山 知宏 MUROYAMA, Norihiro; JP
Mandataire :
特許業務法人はるか国際特許事務所 HARUKA PATENT & TRADEMARK ATTORNEYS; 東京都千代田区六番町3 六番町SKビル5階 Rokubancho SK Bldg. 5th Floor, 3, Rokubancho, Chiyoda-ku, Tokyo 1020085, JP
Données relatives à la priorité :
2017-15429209.08.2017JP
Titre (EN) CRYSTAL-PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS DEVICE, CRYSTAL-PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS METHOD, AND CRYSTAL-PHASE QUANTITATIVE ANALYSIS PROGRAM
(FR) DISPOSITIF D’ANALYSE QUANTITATIVE DE PHASE CRISTALLINE, PROCÉDÉ D’ANALYSE QUANTITATIVE DE PHASE CRISTALLINE ET PROGRAMME D’ANALYSE QUANTITATIVE DE PHASE CRISTALLINE
(JA) 結晶相定量分析装置、結晶相定量分析方法、及び結晶相定量分析プログラム
Abrégé :
(EN) Provided is a crystal-phase quantitative analysis device capable of more easily performing quantitative analysis of a sample including a plurality of crystal phases. The crystal-phase quantitative analysis device is provided with: a means for acquiring powder diffraction patterns in a sample; a means for acquiring information about a plurality of crystal phases; a means for acquiring respective fitting functions for the plurality of crystal phases; a means for performing all-pattern fitting on the powder diffraction patterns by using the fitting functions and acquiring the result of the all-pattern fitting; and a means for calculating the weight ratio of the plurality of crystal phases on the basis of the result. Each of the fitting functions is selected from a group consisting of first fitting functions using integration intensities obtained by all-pattern decomposition, second fitting functions using integration intensities obtained by observation or calculation, and third fitting functions using profile intensities obtained by observation or calculation.
(FR) La présente invention concerne un dispositif d’analyse quantitative de phase cristalline permettant d’effectuer plus aisément une analyse quantitative d’un échantillon comprenant une pluralité de phases cristallines. Le dispositif d’analyse quantitative de phase cristalline est pourvu de : un moyen d’acquisition de diagrammes de diffraction sur poudre dans un échantillon ; un moyen d’acquisition d’informations concernant une pluralité de phases cristallines ; un moyen d’acquisition de fonctions d’ajustement respectives pour la pluralité de phases cristallines ; un moyen d’exécution d’un ajustement de tout diagramme sur les diagrammes de diffraction sur poudre au moyen des fonctions d’ajustement et d’acquisition du résultat de l’ajustement de tout diagramme ; et un moyen de calcul du rapport en poids de la pluralité de phases cristallines sur la base du résultat. Chacune des fonctions d’ajustement est choisie dans un groupe constitué de premières fonctions d’ajustement utilisant des intensités d’intégration obtenues par décomposition de tout diagramme, de deuxièmes fonctions d’ajustement utilisant des intensités d’intégration obtenues par observation ou calcul, et de troisièmes fonctions d’ajustement utrilisant des intensités de profil obtenues par observation ou calcul.
(JA) 複数の結晶相を含む試料の定量分析をより簡便に行うことが出来る結晶相定量分析装置の提供。 試料の粉末回折パターンを取得する手段と、複数の結晶相の情報を取得する手段と、複数の結晶相それぞれに対するフィッティング関数を取得する手段と、これらフィッティング関数を用いて、粉末回折パターンに対して全パターンフィッティングを実行し、その結果を取得する手段と、その結果に基づいて、複数の結晶相の重量比を計算する手段と、を備える結晶相定量分析装置であって、各フィッティング関数は、全パターン分解によって得られる積分強度を用いる第1フィッティング関数、観測又は計算による積分強度を用いる第2フィッティング関数、観測又は計算によるプロファイル強度を用いる第3フィッティング関数からなる群から選択される。
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Langue de publication : japonais (JA)
Langue de dépôt : japonais (JA)