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1. (WO2019030476) INJECTION D'IONS DANS DES SPECTROMÈTRES DE MASSE À PASSAGES MULTIPLES
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N° de publication : WO/2019/030476 N° de la demande internationale : PCT/GB2018/052104
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 26.07.2018
CIB :
H01J 49/40 (2006.01) ,H01J 49/06 (2006.01)
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
26
Spectromètres de masse ou tubes séparateurs de masse
34
Spectromètres dynamiques
40
Spectromètres à temps de vol
H ÉLECTRICITÉ
01
ÉLÉMENTS ÉLECTRIQUES FONDAMENTAUX
J
TUBES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE OU LAMPES À DÉCHARGE ÉLECTRIQUE
49
Spectromètres pour particules ou tubes séparateurs de particules
02
Détails
06
Dispositifs électronoptiques ou ionoptiques
Déposants :
VERENCHIKOV, Anatoly [ME/ME]; ME (AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BE, BF, BG, BH, BJ, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CF, CG, CH, CI, CL, CM, CN, CO, CR, CU, CY, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, FR, GA, GB, GD, GE, GH, GM, GN, GQ, GR, GT, GW, HN, HR, HU, ID, IE, IL, IN, IR, IS, IT, JO, JP, KE, KG, KH, KM, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LT, LU, LV, LY, MA, MC, MD, ME, MK, ML, MN, MR, MT, MW, MX, MY, MZ, NA, NE, NG, NI, NL, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SI, SK, SL, SM, SN, ST, SV, SY, SZ, TD, TG, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW)
MICROMASS UK LIMITED [GB/GB]; Stamford Avenue Altrincham Road Wilmslow Cheshire SK9 4AX, GB (MG)
Inventeurs :
VERENCHIKOV, Anatoly; ME
Mandataire :
CHIVA, Andrew Peter; GB
Données relatives à la priorité :
1712612.906.08.2017GB
1712613.706.08.2017GB
1712614.506.08.2017GB
1712616.006.08.2017GB
1712617.806.08.2017GB
1712618.606.08.2017GB
1712619.406.08.2017GB
Titre (EN) ION INJECTION INTO MULTI-PASS MASS SPECTROMETERS
(FR) INJECTION D'IONS DANS DES SPECTROMÈTRES DE MASSE À PASSAGES MULTIPLES
Abrégé :
(EN) An improved multi-pass time-of-flight or electrostatic trap mass spectrometer (70) with an orthogonal accelerator, applicable to mirror based multi-reflecting (MR) or multi-turn (MT) analyzers. The orthogonal accelerator (64) is tilted and after first ion reflection or turn the ion packets are back deflected with a compensated deflector (40) by the same angle α to compensate for the time-front steering and for the chromatic angular spreads. The focal distance of deflector (40) is control by Matsuda plates or other means for producing quadrupolar field in the deflector. Interference with the detector rim is improved with dual deflector (68). The proposed improvements allow substantial extension of flight path and number of ion turns or reflections. The problems of analyzer angular misalignments by tilting of ion mirror (71) is compensated by electrical adjustments of ion beam (63) energy and deflection angles in deflectors (40) and (68).
(FR) L'invention concerne un spectromètre de masse à temps de vol ou à piège électrostatique à passages multiples amélioré (70) avec un accélérateur orthogonal, applicable à des analyseurs multiréfléchissants (MR) ou multitours (MT) basés sur un miroir. L'accélérateur orthogonal (64) est incliné et après une première réflexion d'ions ou tour, les paquets d'ions, sont déviés vers l'arrière avec un déflecteur compensé (40) par le même angle α pour compenser la direction de front temporel et pour les dispersions angulaires chromatiques. La distance focale du déflecteur (40) est commandée par des plaques de Matsuda ou d'autres moyens pour produire un champ quadripolaire dans le déflecteur. L'interférence avec le rebord du détecteur est améliorée avec un double déflecteur (68). Les améliorations proposées permettent une extension substantielle du trajet de vol et du nombre de tours d'ions ou de réflexions. Les problèmes des désalignements angulaires d'analyseur par inclinaison du miroir d'ions (71) sont compensés par des ajustements électriques d'énergie de faisceau d'ions (63) et d'angles de déviation dans des déflecteurs (40) et (68).
front page image
États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : anglais (EN)
Langue de dépôt : anglais (EN)