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1. (WO2019028817) SYSTÈME DE TEST DE VIEILLISSEMENT D'ALIMENTATION ÉLECTRIQUE À DÉCOUPAGE ET PROCÉDÉ DE TEST DE VIEILLISSEMENT
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N° de publication : WO/2019/028817 N° de la demande internationale : PCT/CN2017/097030
Date de publication : 14.02.2019 Date de dépôt international : 11.08.2017
CIB :
G01R 31/40 (2014.01) ,G01R 31/42 (2006.01)
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
40
Essai d'alimentations
G PHYSIQUE
01
MÉTROLOGIE; ESSAIS
R
MESURE DES VARIABLES ÉLECTRIQUES; MESURE DES VARIABLES MAGNÉTIQUES
31
Dispositions pour vérifier les propriétés électriques; Dispositions pour la localisation des pannes électriques; Dispositions pour l'essai électrique caractérisées par ce qui est testé, non prévues ailleurs
40
Essai d'alimentations
42
d'alimentations en courant alternatif
Déposants :
深圳欣锐科技股份有限公司 SHINRY TECHNOLOGIES CO., LTD. [CN/CN]; 中国广东省深圳市 南山区学苑大道1001号南山智园C1栋14楼 14/F, Block C1, Nanshan zhiyuan, No. 1001, Xueyuan Blvd, Nanshan District Shenzhen, Guangdong 518055, CN
Inventeurs :
赵德琦 ZHAO, Deqi; CN
刘鹏飞 LIU, Pengfei; CN
吴壬华 WU, Renhua; CN
Mandataire :
广州三环专利商标代理有限公司 SCIHEAD IP LAW FIRM; 中国广东省广州市 越秀区先烈中路80号汇华商贸大厦1508室 Room 1508, Huihua Commercial & Trade Building No. 80, XianLie Zhong Road, Yuexiu Guangzhou, Guangdong 510070, CN
Données relatives à la priorité :
Titre (EN) SWITCHING POWER SUPPLY AGING TEST SYSTEM AND AGING TEST METHOD
(FR) SYSTÈME DE TEST DE VIEILLISSEMENT D'ALIMENTATION ÉLECTRIQUE À DÉCOUPAGE ET PROCÉDÉ DE TEST DE VIEILLISSEMENT
(ZH) 开关电源老化测试系统及老化测试方法
Abrégé :
(EN) A switching power supply aging test system and an aging test method. The system comprises a direct current power supply (101), a switching power supply being tested (102), and an energy feedback load (103). An input end of the direct current power supply (101) is electrically connected to the mains electricity. An output end of the direct current power supply (101) is electrically connected to an input end of the energy feedback load (103). The input end and an output end of the energy feedback load (103) also are electrically connected respectively to an output end and an input end of the switching power supply being tested (102). The direct current power supply (101) provides the energy feedback load (103) with a first input direct current power supply. The energy feedback load (103) provides the switching power supply being tested (102) with a second input power supply. The direct current power supply (101) also is used for providing for the power loss of the switching power supply test system in an aging test process. A third output direct current power supply and the first input direct current power supply outputted by the switching power supply being tested (102) jointly provide the energy feedback load (103) with a power supply input. The method facilitates a reduction in the power loss of the switching power supply aging test system and increases the energy recovery and reuse rate of the aging test system.
(FR) L'invention concerne un système de test de vieillissement d'alimentation à découpage et un procédé de test de vieillissement. Le système comprend une alimentation en courant continu (101), une alimentation à découpage testée (102) et une charge de rétroaction d'énergie (103). Une extrémité d'entrée de l'alimentation en courant continu (101) est électriquement connectée à l'électricité de secteur. Une extrémité de sortie de l'alimentation en courant continu (101) est connectée électriquement à une extrémité d'entrée de la charge de rétroaction d'énergie (103). L'extrémité d'entrée et une extrémité de sortie de la charge de rétroaction d'énergie (103) sont également connectées électriquement respectivement à une extrémité de sortie et à une extrémité d'entrée de l'alimentation à découpage testée (102). L'alimentation en courant continu (101) fournit à la charge de rétroaction d'énergie (103) une première alimentation en courant continu d'entrée. La charge de rétroaction d'énergie (103) fournit à l'alimentation électrique à découpage testée (102) une seconde alimentation électrique d'entrée. L'alimentation en courant continu (101) est également utilisée pour fournir la perte de puissance du système de test d'alimentation à découpage dans un processus de test de vieillissement. Une troisième alimentation en courant continu de sortie et la première alimentation en courant continu d'entrée émises par l'alimentation électrique à découpage testée (102) fournissent conjointement à la charge de rétroaction d'énergie (103) une entrée d'alimentation électrique. Le procédé facilite une réduction de la perte de puissance du système de test de vieillissement d'alimentation à découpage et augmente le taux de récupération et de réutilisation d'énergie du système de test de vieillissement.
(ZH) 一种开关电源老化测试系统及老化测试方法,该系统包括直流电源(101),被测开关电源(102)和能源回馈负载(103),直流电源(101)的输入端电连接于市电,直流电源(101)的输出端电连接于能源回馈负载(103)的输入端,能源回馈负载(103)的输入端和输出端还分别电连接于被测开关电源(102)的输出端和输入端;直流电源(101)为能源回馈负载(103)提供第一输入直流电源,能源回馈负载(103)为被测开关电源(102)提供第二输入电源,直流电源(101)还用于提供开关电源老化测试系统在老化测试过程中的功率损耗,被测开关电源(102)输出的第三输出直流电源与第一输入直流电源共同为能源回馈负载(103)提供电源输入。该方法有利于降低开关电源老化测试系统的功率损耗,提高老化测试系统的能源回收利用率。
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États désignés : AE, AG, AL, AM, AO, AT, AU, AZ, BA, BB, BG, BH, BN, BR, BW, BY, BZ, CA, CH, CL, CN, CO, CR, CU, CZ, DE, DJ, DK, DM, DO, DZ, EC, EE, EG, ES, FI, GB, GD, GE, GH, GM, GT, HN, HR, HU, ID, IL, IN, IR, IS, JO, JP, KE, KG, KH, KN, KP, KR, KW, KZ, LA, LC, LK, LR, LS, LU, LY, MA, MD, ME, MG, MK, MN, MW, MX, MY, MZ, NA, NG, NI, NO, NZ, OM, PA, PE, PG, PH, PL, PT, QA, RO, RS, RU, RW, SA, SC, SD, SE, SG, SK, SL, SM, ST, SV, SY, TH, TJ, TM, TN, TR, TT, TZ, UA, UG, US, UZ, VC, VN, ZA, ZM, ZW
Organisation régionale africaine de la propriété intellectuelle (ARIPO) (BW, GH, GM, KE, LR, LS, MW, MZ, NA, RW, SD, SL, ST, SZ, TZ, UG, ZM, ZW)
Office eurasien des brevets (OEAB) (AM, AZ, BY, KG, KZ, RU, TJ, TM)
Office européen des brevets (OEB (AL, AT, BE, BG, CH, CY, CZ, DE, DK, EE, ES, FI, FR, GB, GR, HR, HU, IE, IS, IT, LT, LU, LV, MC, MK, MT, NL, NO, PL, PT, RO, RS, SE, SI, SK, SM, TR)
Organisation africaine de la propriété intellectuelle (OAPI) (BF, BJ, CF, CG, CI, CM, GA, GN, GQ, GW, KM, ML, MR, NE, SN, TD, TG)
Langue de publication : chinois (ZH)
Langue de dépôt : chinois (ZH)